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热流罩 冷热循环冲击气流测试机
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¥11111芯片动态老化测试系统Small Burn-in Tester
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¥11111探针台CHUCK系统维修升级改造
随着半导体产业,光电行业,尤其是第三代半导体的飞速发展,芯片CP晶圆级的测试要求的越来越重要。传统针测设备很多已经无法满足测试需求,如:更低温度需求,高压大电流,低漏电低噪声等等。为了满足客户的需求,我们基于自身温控系统的技术you势,致力于为客户打造低成本的探针台CHUCK系统升级方案。
探针台CHUCK系统维修升级改造
CHUCK系统温度范围涵盖的-60℃到+200℃;常温到+200℃(高温可选+300℃),制冷技术,能够实现快速降温和jing准控温。同时,我们采用高品质的材料和制造工艺,确保系统的高可靠性。
探针台CHUCK系统维修升级改造
针对各种探针台和不同的客户测试需求,皆可提供对应的升级方案。
高精度和高稳定性:我们的系统采用温度控制技术,能够实现高精度的温度控制和稳定性。
快速降温:我们的系统采用的制冷技术,能够实现快速降温,缩短测试时间。
高可靠性:我们采用高品质的材料和制造工艺,确保系统的高可靠性。
售后服务:我们提供售后服务,确保客户在使用过程中得到及时的技术支持和解决方案。
探针台CHUCK系统维修升级改造