XTU-50BXTU-50B X荧光光谱仪

测量面积：最小0.002mm²镀层分析：23层镀层24种元素仪器特点：可手动变焦仪器优势：同元素不同层分析：服务宗旨：一六仪器，品质 参考价面议

XTU-50A镀层测厚仪 涂覆层测厚仪器

XTU-50A是一款设计结构紧凑，模块精密化程度*的镀层测厚仪，C型开槽设计样品腔，让其满足了既可测量超微小样品的检测，同时还可满足超过样品腔尺寸的大工件测量。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。 参考价面议

XU-100涂镀层测厚仪 X荧光光谱仪 光谱膜厚仪

XU-100是一款设计结构紧凑，模块精密化程度*的镀层测厚仪，C型开槽设计样品腔，对各种大小异形件都可快速、精准、无损测量。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
1）搭载微聚焦X射线发生器和*的光路转换聚焦系统，最小测量面积达0.2mm²
2）拥有无损变焦检测技术，手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽深度范围0-30mm 参考价面议

XD-1000镀层测厚仪 PCB板检测 上照式仪器

XD-1000镀层测厚仪可对各类镀层厚度分析的同时可对电镀液进行分析，适用于各种超大件、异形凹槽件、微小密集型多点测试或自动逐个检测大量的小部件，如线路板、引线支架、卫浴产品等。 参考价面议

毛细聚焦X荧光光谱仪 镀层测厚仪

毛细聚焦X荧光光谱仪系列产品可测量金属准直无法测量的微区，多导毛细聚焦管光学元件的光束尺寸可小至5μm，因此可以测量微电子设备、高级电路板、连接器、引脚框架和晶片的超微小区域。可以测量纳米级的镀层，毛细聚焦管能将更多的X射线输出聚焦到样品上，可以敏感的反应镀层纳米级厚度变化。其焦斑小区域上的X射线强度比金属准直系统高出几个数量级。 参考价面议

XAVU抽真空光谱仪 金属元素分析仪

XAVU抽真空光谱仪是一款一机多用型光谱仪，应用了*的EFP算法和微光聚集技术，既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的膜厚性能，又可满足成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。 参考价面议

XAD系列全自动光谱分析仪 全元素上照式分析仪

XAD全自动光谱分析仪 全元素上照式分析仪是一款上照式全元素光谱分析仪，可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚，也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析，*的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。 参考价面议

XTU-4CX荧光光谱仪 镀层测厚仪

XTU-4CX荧光光谱仪 镀层测厚仪是一款设计结构紧凑，模块精密化程度*的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。 参考价面议

XAU光谱分析仪

测量面积：小0.03mm2镀层分析：23层镀层24种元素仪器特点：可变焦对焦仪器优势：同元素不同层分析：服务宗旨：一六仪器 品质 参考价面议

其它类标准片

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镀Cu标准片类型及参数

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镀Ni标准片类型及参数

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