XAD是一款上照式全元素光谱分析仪，可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚，也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析，*的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。

被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

全自动光谱分析仪 全元素上照式分析仪产品优势：微小样品检测：测量面积小至0.008mm²变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-90mm自主研发的EFP算法：AI(3)-U(92)元素的成分分析，Li(3)-U(92)元素的涂镀层检测，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可准确测量*的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积20/50mm²探测器X射线装置：微焦加强型射线管搭配聚焦装置上照式设计：实现对大型样品或者密集点位进行快、准、稳高效率测量可编程自动位移：选配自动平台，X210*Y230*Z145mm行程内无人值守自动测量多准直器自动切换

全自动光谱分析仪 全元素上照式分析仪广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、环保检测、地质地矿、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董、锂电行业等多种领域。

多元迭代EFP核心算法

专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上，计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代研发出EFP核心算法，结合*的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统，只需要少量的标样来校正仪器因子，可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。单涂镀层应用：如Ni/Fe、Ag/Cu等多涂镀层应用：如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等合金镀层应用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等合金成分应用：如NiP/Fe，通过EFP算法，在计算镍磷镀层厚度的同时，还可精准分析出镍磷含量比例。重复镀层应用：不同层有相同元素，也可准确测量和分析。如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，一层Ni和三层Ni的厚度均可测量。有害元素检测：RoHS检测，可满足铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、六价铬（Cr VI）等有害元素的成分检测及含量分析