光谱椭偏仪SE-VE型

是一款高精度快速测量光谱椭偏仪，可通过椭偏参数、透射/反射率等参数的测量，实现单层到多层薄膜膜厚、光学参数等快速表征分析， 适用于各种薄膜材料的快速测量分析。

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• 一键快速测量分析，人机交互设计，使用便捷

• 紧凑集成化设计，*用户操作体验

• 光学椭偏测量解决方案

• 丰富的材料数据库和算法模型库，强大的数据分析能力

     产品特点： 

•  采用高强度卤素灯光源，光谱覆盖可见光到近红外范围；

•  高精度旋转补偿器调制、PCRSA配置，实现Psi/Delta光谱数据高速采集；

  

•  数百种材料数据库、多种算法模型库，涵盖了目前绝大部分的光电材料；

  

     产品应用 

    SE-VE  型光谱椭偏仪广泛应用于科研/企业中各种单层到多层薄膜膜厚以及光学常数等快速表征分析：