BKTEM-B1型薄膜热电参数测试系统

BKTEM-B1型薄膜热电参数测试系统

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￥ 11111 1件

具体成交价以合同协议为准
2024-05-09 09:10:37
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北京精科智创科技发展有限公司

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产品简介

BKTEM-B1型薄膜热电参数测试系统薄膜热电参数测试系统MRS-3RT专门针对常温下薄膜材料的泽贝克系数和电阻率的测量仪器，采用动态法和四线法保证测试结果的准确和稳定，拥有宽广的测试范围和便捷的操作界面。

详细介绍

BKTEM-B1型薄膜热电参数测试系统

关键词：热电，赛贝克系数，电阻率

BKTEM-B1型薄膜热电参数测试系统

BKTEM-B1型薄膜热电参数测试系统薄膜热电参数测试系统MRS-3RT专门针对常温下薄膜材料的泽贝克系数和电阻率的测量仪器，采用动态法和四线法保证测试结果的准确和稳定，拥有宽广的测试范围和便捷的操作界面。


产品特点

● 专门针对薄膜材料的Seebeck系数和电阻率测量。

● 测试环境温度范围达到81K~700K。

● 采用动态法测 量Seebeck系数，避免了静态测量在温差测量上的系统误差，测量更准确。

● 采用四线法测量电阻率。

● 卡箍设计，方便进行样品更换，提高效率。

● 软件操作简单，智能化可实现全自动模式。

产品技术参数

型号

BKTEM-B1

温度范围

RT

测试气氛

 空气

测量范围

赛贝克系数：|S| ≥ 8μV/K

电阻率：0.1μΩ•m ~ 106μΩ•m

分辨率

泽贝克系数：0.05μV/K

电阻率：0.05μΩ•m

相对误差

赛贝克系数 ≤ ±7%

电阻率 ≤ ±10%

样品尺寸

长度:10mm~18mm；宽度:2mm~7mm；厚度：50nm~2mm

主机尺寸

170x250x220（mm）

重量

3.5kg



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