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PEA-101型空间电荷测试系统
¥111111PVDF-600型连续式压电薄膜极化装置
¥111ZJ-3A/B型压电测试仪
¥111DZFE-5000W型电致应变铁电测试仪
¥111FE-5001型铁电参数测试仪/PUND测试
¥111TSC(TSDC)-5000热刺激电流测试仪
¥11111ECM -150型电卡效应测试系统
¥11111ZJ-3型导电凝胶D33系数仪
¥11111绝缘材料体电阻和表面电阻超高阻测试仪
¥11111YDZ-01压电材料电阻率测试仪
¥11111PZT-JL03型压电陶瓷居里点温度测试仪
¥11111GWJDN-1000B高温介电温谱分析仪
¥11111BKTEM-Dx热电材料性能测试仪,热电材料塞贝克系数测试仪
关键词:热电材料,Seebeck系数,电阻率, 电导率,V-1装置
产品介绍:
BKTEM-Dx热电材料性能测试仪是我国热电材料的设备,是国家材料计划中zui前沿装备,是我国科研人员几十年的精心参与和设计出来的热电材料测试仪,其测试性能远超越国内外热电材料测试仪,不仅可以用于块体材料同时也可以用于薄材料的测试,是目前国内高等院校和
研究所的重要设备。
对于热电材料的研究,热电性能测试是*的试验数据。BKD-Dx(x=1,2,3)系列可以精确地测定半导体材料、金属材料及其他热电材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系数及电导率。主要原理和特点如下:
该装置由温度可控的电阻炉和控制温度用的微型加热源构成。通过PID程序控温,采用四点法的方式精确测定半导体材料及热电材料的Seebeck系数及电导率、电阻率。试样与引线的接触是否正常V-1装置可以自动检出。
一、适用范围:
1、测定半导体材料、金属材料及其他热电(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康铜、镍、钨等金属,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系数及电导率、电阻率。
3、块体和薄膜材料测均可以测试。
4、试样与引线的接触是否正常V-1装置可以自动检出。
5、拥有自身分析软件,独立分析,过程自动控制,界面友好。
6、国内高等院校材料系研究或是热电材料生产单位。
7、汽车和燃油、能源利用效率、替代能源领域、热电制冷.
8、很多其他工业和研究领域-每年都会诞生新的应用领域.
二、技术特点:
·解决高温下温控精度不准的问题,静态法测量更加直观的了解产品热电材料的真正表征物理属性。
温度检测可采用J、K型热电偶,降低测试成本。
·试样采用*的焊偶机构,保证接触电阻zui小以及测量结果的高重现性。
每次可测试1-3个样品.
采用高级数据采集技术,避免电路板数据采集技术带来的干扰误差,可控温场下同步测量赛贝克系数和电阻率。
| BKTEM-D1 | BKTEM-D2 | BKTEM-D3 |
测量温度 | 室温-600℃ | 室温-600℃ | 室温-600℃ |
同时测试样品数量 | 1个 | 2个 | 3个 |
控温精度 | 0.5K(温度波动:≤±0.1℃) | ||
测量原理 | 塞贝克系数:静态直流电;电阻系数:四端法 | ||
测量范围 | 塞贝克系数:0.5μV/K_25V/K;电阻系数:0.2Ohm-2.5KOhm | ||
分辨率 | 塞贝克系数:10nV/K;电阻系数: 10nOhm | ||
测量精度 | 塞贝克系数:<±6%;电阻系数:<±5% | ||
样品尺寸 | 块体方条形:2-3×2-3 mm×10-23mm长,薄膜材料:≥50 nm | ||
热电偶导距 | ≥6 mm | ||
电 流 | 0 to 160 mA | ||
气 氛 | 减压He | ||
加热电极相数/电压 | 单相,220V, | ||
夹具接触热阻 | ≤0.05 m2K/W |
图1 单一样品测试系统原理示意图
图2 双样品测试系统原理示意图