膜厚仪BA-100 Optics 测厚仪

膜厚仪BA-100 Optics 测厚仪

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具体成交价以合同协议为准
2023-07-04 09:25:10
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产品简介

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详细介绍

Bowman BA-100 Optics 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪

供应美国博曼Bowman X射线测厚仪 镀层测厚仪 膜厚测量仪

深圳市奔蓝科技有限公司总代理美国博曼Bowman X射线镀层测厚仪及辅助配件!相比费希尔、牛津仪器和精工测厚仪更有的表现!价格更实惠,软件人性化设计,极力推荐产品!并供应美国CalMetrics镀层标准片,都附有可以追溯到美国NIST认证的证书。

集销售、安装、维护、维修及培训一体化服务!

博曼Bowman镀层测厚仪,专业用于PCB电路板行业和要求的表面处理行业使用。

机器可以测量更小的面积,更多层的镀层,更薄的镀层厚度,测量数据非常稳定。

品牌:博曼Bowman 型号:BA-100 Optics 博曼Bowman中国区总代理

美国博曼(Bowman)Bowman BA-100 Optics 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。

Bowman BA-100 Optics 机型采用业界的多孔毛细管光学聚焦装置,有效缩小测量点斑点的同时,可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。

Bowman BA-100 Optics 机型配备大面积的SDD(硅漂移探测器),有效拓展元素分析范围,适应的微区、超薄镀层,以及痕量元素分析需求。

优秀的测试性能、突出的微区测量能力,Bowman BA-100 Optics机型是研究开发、质量管控的XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。

稳定的X射线管

多毛细管聚焦光学结构

性能与可操作性的化

简单的设计、强大的分析能力

直观的用户界面

常见的镀层应用:

线路板 :Au/ENi/CuPCB(ENIG);Ag或Sn/CuPCB;Au/Pd/Ni/PCB

引线框架和连接器 :Au/Pd/Ni/Cu Alloys;Au/Ni/Ni/Fe; Ag/Cu; Au/Pd/Ni/CuFe

半导体行业:Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材;Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材

线材:Sn/Cu

通讯和数据储存设备 :NiP/Al ;Ag/Cu;Ag/Ni/Cu

珠宝、贵金属 : 10,14,18Kt

元素分析、合金分类、杂质分析、溶液分析、电镀液分析等

十多年来,深圳奔蓝科技一直服务于PCB 厂商、五金电镀、连接器、LCD、科研机构、高校、质量检测中心、半导体、微电子、光电子、光通讯等领域。我们提供高质量的产品和的服务都得到客户的奖励,在未来,我们将继续履行客户的期望、要求和需要。


Tags: X射线测厚仪,膜厚仪,荧光测厚仪,薄膜测厚仪,金镍厚测量仪,镀层测厚仪
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