美国Calmetrics 镀层标准片 膜厚片 薄膜片 校正片 电镀片

镀层标准片Ni/XX标准规格（可提供特别订制）：

镍NICKEL (Ni)
CSNI4 Ni/XX 4u” (0.10um)
CSNI10 Ni/XX 10u” (0.25um)
CSNI20 Ni/XX 20u” (0.50um)
CSNI40 Ni/XX 40u” (1.00um)
CSNI80 Ni/XX 80u” (2.00um)
CSNI100 Ni/XX 100u” (2.50um)
CSNI120 Ni/XX 120u” (3.00um)
CSNI200 Ni/XX 200u” (5.00um)

CSNI320 Ni/XX 320u” (8.00um)
CSNI400 Ni/XX 400u” (10.0um)
CSNI800 Ni/XX 800u” (20.0um)
CSNI1100 Ni/XX 1100u” (27.5um)

Calmetrics镀层标准片适用于费希尔Fischer、牛津Oxford、CMI、热电Thermo、Veeco、微先锋Micro Pioneer、精工Seiko、岛津、电测、纳优、天瑞、华唯等各厂牌X-ray（X射线测厚仪）、 β-ray（β射线测厚仪）、磁感式及涡电流等多种原理的各种规格与尺寸。

特色：标准片NIST、A2LA校正认证，质量精良，精度高、稳定性好; X-Ray、β-Ray、磁感式、涡电流式专用标准片

X射线测厚仪镀层标准片一般分为单镀层片，双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。例如：单镀层：Ag/xx，双镀层：Au/Ni/xx， 三镀层：Au/Pd/Ni/xx，合金镀层：Sn-Pb/xx， 化学镀层：Ni-P/xx。（所有标准片都附有NIST证书）

美国Calmetrics公司是专业生产X射线荧光金属镀层测厚仪标准片及RoHS标准片，以及对标准片进行重新鉴定，其所有证书都是符合NIST（National Institute of Standards and Technology美国国家标准与技术研究院）标准或ANSI（American National Standards Institute美国国家标准学会）标准。

测厚仪标准片又名膜厚仪校准片或者薄膜片，专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的仪器标准化校准及建立测量分析档案。