应用范围

□ 测试平面光学元件（如棱镜、滤光片、光栅、平行平板、镀膜等）、球面光学元件（凹面镜、凸面镜等）和各种材料（溶液、玻璃、硅、布料、汽车贴膜、眼镜等）的吸收、透射/反射光谱。

主要规格及特色

□ 光谱范围： 380~1000nm/600~1200nm（zui低200nm，zui高3000nm，可选）

□ 波长分辩率： 0.03nm~10nm （由所选波长范围确定）

□ 测试系统高集成度，全自动化的测量

□ 两种系统可选，分别针对平面光学元件和球面光学元件光谱分析测试

□ 可升级测量平面光学元件不同入射角的反射和透射光谱，样品角度位移范围：2.5~357.5°，zui小角位移：0.01°

□ 测量zui大相对误差：<1.0% （平面测试系统）； <1.2%  (球面测试系统)；

□ 校正线性度：99.8%

应用范围

□ 测试平面光学元件（如棱镜、滤光片、光栅、平行平板、镀膜等）、球面光学元件（凹面镜、凸面镜等）和各种材料（溶液、玻璃、硅、布料、汽车贴膜、眼镜等）的吸收、透射/反射光谱。

主要规格及特色

□ 光谱范围： 380~1000nm/600~1200nm（zui低200nm，zui高3000nm，可选）

□ 波长分辩率： 0.03nm~10nm （由所选波长范围确定）

□ 测试系统高集成度，全自动化的测量

□ 两种系统可选，分别针对平面光学元件和球面光学元件光谱分析测试

□ 可升级测量平面光学元件不同入射角的反射和透射光谱，样品角度位移范围：2.5~357.5°，zui小角位移：0.01°

□ 测量zui大相对误差：<1.0% （平面测试系统）； <1.2%  (球面测试系统)；

□ 校正线性度：99.8%