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| MJLD型吸收率和法向发射率测量装置 | ||
| 产品介绍 | MJLD型吸收率和法向发射率测量装置，主要用于测量材料的太阳吸收比和法向发射率。它是将吸收率测量装置和法向发射率测量装置合为一体，配有计算机和工作软件，实现自动测量的*测量设备。本装置是由国防航天科技企业和航天专家研究员联合研制。是航天系统测量专家的智慧结晶。本设备是国内*，*国内测量材料太阳吸收比和法向发射率仪器的空白，同时在测量方法上有进一步的创新。 | |
| 产品技术指标 | 法向发射率 测量范围：0.05～0.99； 工作温度范围：-30～80℃； 测量不确定度：当εn>0.7 为±1.5%； 当εn<0.2 为±5%；其余为2%； 探测器：平面热电堆 ； 峰值波长：8.4～11μm； 吸收率 测量范围：0.02～0.99； 工作温度范围：-30～80℃； 测量不确定度：当αs>0.8 为±2.0%； 当εn<0.2 为±4%；其余为2.5%； 积分球直径：Φ150； 光源高色温：220V300W； 探测器：真空平面热电堆； 工作波长：0.35～2.5μm； | |
| 用 途 | 测量固体材料的太阳吸收和法向发射特性。 | |
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