OSP薄膜测量仪
OSP厚度测量仪,仪器通过分析可见光谱中不同波长的光谱分别在铜箔表面和OSP镀层表面上反射后形成的新的关于波长的数据信息来测量OSP镀层的厚度。从OSP镀层表面反射的光线与从基层铜箔表面反射的光线相互干涉从而形成新的干涉图谱。该图谱会形成与光强相关的振幅曲线,ST4080-OSP仪器通过分析该曲线的振幅和频率以确定OSP镀层厚度和完整性。OSP4080-OSP涂层测量仪
OSP厚度测量仪,仪器通过分析可见光谱中不同波长的光谱分别在铜箔表面和OSP镀层表面上反射后形成的新的关于波长的数据信息来测量OSP镀层的厚度。从OSP镀层表面反射的光线与从基层铜箔表面反射的光线相互干涉从而形成新的干涉图谱。该图谱会形成与光强相关的振幅曲线,ST4080-OSP仪器通过分析该曲线的振幅和频率以确定OSP镀层厚度和完整性。OSP-ST4080膜厚测量仪
OSP厚度测量仪,仪器通过分析可见光谱中不同波长的光谱分别在铜箔表面和OSP镀层表面上反射后形成的新的关于波长的数据信息来测量OSP镀层的厚度。从OSP镀层表面反射的光线与从基层铜箔表面反射的光线相互干涉从而形成新的干涉图谱。该图谱会形成与光强相关的振幅曲线,ST4080-OSP仪器通过分析该曲线的振幅和频率以确定OSP镀层厚度和完整性。OSP厚度测量仪
OSP厚度测量仪,仪器通过分析可见光谱中不同波长的光谱分别在铜箔表面和OSP镀层表面上反射后形成的新的关于波长的数据信息来测量OSP镀层的厚度。从OSP镀层表面反射的光线与从基层铜箔表面反射的光线相互干涉从而形成新的干涉图谱。该图谱会形成与光强相关的振幅曲线,ST4080-OSP仪器通过分析该曲线的振幅和频率以确定OSP镀层厚度和完整性。日本精工膜厚测试仪
瑞环有限公司是日本精工膜厚测试仪SFT9000系列华南总代理。主营精工镀层测厚仪(膜厚仪)SFT9200薄膜测厚仪、精工镀层测厚仪/膜厚仪/精工膜厚仪/薄膜镀层分析仪/电镀测厚仪/电镀镀层测厚仪/镀层测量
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SFT9200/SFT9300/SFT9400/SFT9500(膜厚测试仪)是*zui早生发研发的X射线测厚仪,1978年*于其他厂商,研究开发出日本*台荧光X射线镀层厚度测量仪-SFT155。经过二十多年的努力,现在的荧光X射线镀层厚度测量仪能够准确地测量微小面积的镀层厚度。现已为*电子零部件、印刷电路板、 参考价面议SII精工(镀层测厚仪)膜厚仪
瑞环有限公司是日本精工膜厚测试仪SFT9000系列华南总代理。主营精工镀层测厚仪(膜厚仪):SFT9100M、SFT9200、SFT9300、SFT9400、SFT9500系列,及精工元素分析仪、ROHS仪、卤素分析仪如:SEA1000系列、SEA1200VX等仪器设备。日本精工集团zui早成立于1881年,至今已百年历史,是*zui早,也是zui大的研发生产X-RAY工业分析仪器公司之一,我们瑞环公司欢迎各行业的朋友、了解或参观相关精工仪器设备。SFT9300SFT9300超小准直器0.015膜厚测试仪
SFT9300系列 X射线荧光镀层厚度测量仪 产品副名称:实现了微小区域及高精度测量的高功率镀层厚度测量仪 产品型号:SFT9300、SFT9350、SFT9355 产品特点: ★ 搭载有75W高功率X射线管 ? 能够提高X射线的生产效率,实现高精度的测量 参考价面议SFT9100SFT9100电动台X射线无损膜厚测试仪
SFT9100 X射线荧光镀层厚度测量仪技术参数可测元素:Ti~U X射線管:管电压45KV,管电流1mA 检测器:比例计数管 样品观察:CCD摄像机 对焦方式:激光自动对焦 测定软件:薄膜FP法、检量线法 准直器:2个(0.1mm, 0.025*0.3mm 参考价面议SFT9400SFT9400半导体双检测器膜厚仪
X-Ray镀层测厚仪 SFT9400系列 X射线荧光镀层厚度测量仪 产品副名称:可满足所有度层厚度测量需求的双检测器型镀层厚度测量仪 产品型号:SFT9400、SFT9450、SFT9455 产品特点: ★ 搭载有高功率X射线管及双检测器(半导体检测器+比例计数管) 可对应组合复杂的应用程序,特别是可识别Ni和Cu之类能量较为接近的元素 参考价面议SFT9200日本精工SFT9200镀层测厚仪
SFT系列产品,拥有20余年的光辉历史和实绩,SFT9200系列作为SFT系列的新产品,不仅承继了其操作性和依赖性并存的传统,而且又得到进一步深化改良,成为应用更加广泛的荧光X射线镀层厚度测量的"新标准仪器"。