SFT9400半导体双检测器膜厚仪，SFT9400系列 X射线荧光镀层厚度测量仪 产品副名称：可满足所有度层厚度测量需求的双检测器型镀层厚度测量仪 产品型号：SFT9400、SFT9450、SFT9455 产品特点： ★ 搭载有高功率X射线管及双检测器（半导体检测器+比例计数管） 可对应组合复杂的应用程序，特别是可识别Ni和Cu之类能量较为接近的元素。 ?　能够对Ni/Cu和Au/Ni/Cu在不使用二次滤波器的情况下进行测量 ? 对于含Br的电路板，可以不受Br的干扰对Au的镀层厚度进行高精度的测量 ?　可测量0.01μm以下的超薄的Au镀层厚度 ★ 搭载块体FP发软件和薄膜FP法软件 对应含铅的合金镀膜和多层镀膜等，适用于广泛的运用领域 ★ 适用超微小面积的测量 标准配备的15μmΦ的准直器，可对超微小面积进行测量。 ★ 搭载了可3段切换的变焦距光学系统 ★ 拥有防冲撞功能 ★ 搭载高精度样品平台，更可测量大型线路板（SFT9455） ★ 搭载激光对焦系统 ★ 搭载测试报告自动生成软件 产品介绍： SFT9000系列里zui高级的机型「SFT9400系列」搭载有75W高功率X射线管与双检测器（半导体检测器+比例计数管），能满足“薄膜镀层”、“合金镀层”、“超微小面积测量”等镀层厚度测量需求的高性能镀层厚度测量仪。 此外，SFT9400系列还在测量镀层厚度的基础上，新增了可对不同被测物体积材料进行定性分析和成分分析的功能。：*    深圳市宝安区宝安大道盐田商务广场A座421室