SFT9100X射线无损膜厚测试仪 产品名称：】SFT9100 X射线荧光镀层厚度测量仪 ^ 【产品简介：】SFT9100 X射线荧光镀层厚度测量仪技术参数可测元素：Ti～U X射線管：管电压45KV，管电流1mA 检测器：比例计数管 样品观察：CCD摄像机 对焦方式：激光自动对焦 测定软件：薄膜FP法、检量线法 准直器：2个（0.1mm, 0.025*0.3mm） 安全机能：测量室门自锁功能 Z轴防冲撞功能仪器自诊断功能 主要特点选用Mo靶材X射线管，测量贵金属更灵敏。 标准配备有Windows XP中文操作界面。 采用检量线法和FP法，两个准直器可自动切换，采用激光自动对焦，并配备有Z轴防冲撞传感器，可防止在对焦时造成一起的损坏。 可适用于各种样品，从较厚的样品（机械零部件）之大型线路板（PCB）及电子元器件等 仪器介绍日本精工电子有限公司（Seiko Instruments Inc.简称SII），于1978年于其他厂商，研究开发出日本*台荧光X射线镀层厚度测量仪－SFT155。经过二十多年的努力，现在的荧光X射线镀层厚度测量仪能够准确地测量微小面积的镀层厚度。现已为*电子零部件、印刷电路板、汽车零部件等相关厂商提供了5000台以上的测量仪，深受用户的依赖与好评。从此，"SFT"几乎成为镀层厚度测量仪的代名词。随着市场竞争的愈加激烈及产品更新换代的加快，客户需求也日新月异。为了迎接新世纪的挑战，本公司在SFT9000系列的基础上又推出更高性能的SEA5000系列仪器，更加充实了荧光X射线镀层厚度测量仪的应用领域。＊可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。＊可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。＊薄膜FP法软件是标准配置，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量。此外，适用于无铅焊锡的应用。＊备有250种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品  
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