光谱椭偏仪(PH-SE型)针对太阳能电池应用，可测量多晶硅/单晶硅绒面表面单层（二层或多层）减反射膜、和玻璃/有机基底上的薄膜太阳能电池。多层膜和非均匀薄膜的分析也非常出色。 针对太阳能电池应用的光谱椭偏仪基于的椭偏光路设计，高灵敏度探测单元和光谱椭偏仪分析软件，可测量各种太阳能电池的薄膜厚度和光学常数，光学带宽等。
  
  产品特点：
  ■ 连续波长的光源为用户提供了更大的应用空间
  ■ 更简便快捷的样品准直方法
  ■ 软件具备丰富的材料数据库
  ■ 允许用户自定义色散模型，更方便用户研究新材料的光学性质
  ■ 全波长多角度同时数据拟合，EMA模型用户多成分化合物和表面粗糙度分析
  ■ 具有实验数据和模拟数据三维绘图功能
  ■ 光谱范围宽达250 - 1100nm (可扩展至250-1700nm)
  ■ 功能强大的光谱椭偏测量与分析软件
  
  技术指标：
  ■ 光源：氙灯
  ■ 光斑直径：1-3mm
  ■ 入射角范围：20°到90°,5°/步
  ■ 波长范围：350-850nm， 250-1100nm， 250-1700nm：0.002°~ 0.02°
  ■ 波长精度：1nm
  ■ 测量时间: < 8s （取决于测量模式和粗糙度）
  ■ 样品尺寸: 125x125mm 156x156mm,200x200mm电池片, 其他尺寸
  ■ 测量精度：0.02nm
  ■ 折射率：0.0002, 100nmSiO2 on Si 
  ■ 厚度测量范围：0.01nm ~ 50um
  ■ 消光比：10-6
  
 
  
可选配：
  ■ CCD线阵列探测元件：200-850nm，350-1000nm
  ■ 样品显微镜
  ■ 高稳定性消色差补偿器
  ■ 透射测量架
  ■ XY移动样品台
  

  典型客户：
  美国，欧洲，亚洲及国内太阳能及半导体客户。