品牌
其他厂商性质
所在地
DSC 214差示扫描量热仪DSC
面议DSC 3500 差示扫描量热仪
面议100S 接触角测量仪
面议100标准型接触角测量仪/Contact angle measuring device
面议德国KRUSS标准型DSA25接触角测量仪
面议SpectraMax iD5-多功能微孔读板机(酶标仪)
面议AFMinSEM 针尖电子束光刻与扫描电子显微镜组合系统
面议CMax Plus 滤光片型光吸收酶标仪
面议Bravo 自动移液工作站
面议SpectraMax 190 光吸收型酶标仪
面议LVEM5台式透射电子显微镜
面议ImageXpress Pico自动细胞成像系统
面议SE 800 PV 激光椭偏仪
SENTECH设计了SE 800 PV,用于表征由SiNx/SiO2、SiNx/SiNy或SiNx/Al2O3组成的多层钝化膜和防反射涂层。分析了单晶和多晶硅太阳电池的折射率指数、吸收和膜厚。在配方模式下进行复杂的测量,速度快,操作容易。
纹路晶片
防反射涂层和钝化层可以在单晶和多晶硅晶片上测量。
叠层防反射涂层
可以分析SiO2/SiNx、Al2O3/SiNx和SiNx1/SiNx2的涂层。
操作简单
不管是专家还是初学者,光谱椭偏仪SE 800 PV都提供了简单的操作。配方模式特别适合质量控制所需的常规应用。
光谱椭偏仪SE 800 PV是分析结晶和多晶硅太阳能电池防反射膜的理想工具。可以测量单层薄膜(SiNx、SiO2、TiO2、Al2O3)和多层叠层膜(SiNX/SiO2、SiNx1/SiNx2、SiNx/Al2O3)。
SE 800 PV是基于步进扫描分析器测量模式。步进扫描分析器模式允许将测量参数匹配到粗糙的样本表面,同时所有光学部件都处于静止状态。SE 800 PV的光源、光学部件和检测器进行了优化,以符合SENTECH的目标,即快速、准确地测量PV应用的折射率指数、吸收和膜厚。
高测量灵敏度、去偏振校正和特殊的集光光学使SE 800 PV成为在粗糙样品表面进行光伏应用的理想仪器。
光谱椭偏仪SE 800 PV具有操作简单的特点、便于研发应用。SpectraRay/4,SENTECH专有的椭偏仪软件,包括两种操作模式。配方模式允许在质量控制中轻松执行常规应用程序。交互模式具有指导性的图形用户界面,适合于研发应用和新配方的开发。
此外,SE 800 PV满足SENresearch光谱椭偏仪系列的所有要求。