CMI900 X荧光镀层测厚仪特点:
● 精度高、稳定性好
● 强大的数据统计、处理功能
● 测量范围宽
● NIST认证的标准片
● 服务及支持

CMI900 X荧光镀层测厚仪技术参数：
    X射线激发系统
    垂直上照式X射线光学系统
    空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
    标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
    功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准? 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选
    装备有安全防射线光闸
    二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
    准直器程控交换系统
    zui多可同时装配6种规格的准直器
    多种规格尺寸准直器任选：
    －圆形，如4、6、8、12、20 mil等
    －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等? 
    测量斑点尺寸
    在12.7mm聚焦距离时，zui小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)
    在12.7mm聚焦距离时，zui大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
    样品室结构： 开槽式样品室
    zui大样品台尺寸： 610mm x 610mm
    XY轴程控移动范围： 标准：152.4 x 177.8mm 还有5种规格任选
    Z轴程控移动高度:? 43.18mm
    XYZ三轴控制方式: 多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ 三轴手动控制 
    CMI900 样品观察系统:
    高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。
    激光自动对焦功能，可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
计算机系统配置: IBM计算机,惠普或爱普生彩色喷墨打印机
分析应用软件:? 操作系统：Windows2000中文平台, 分析软件包：SmartLink FP软件包
测厚范围:?可测定厚度范围：取决于您的具体应用。 
    CMI900 基本分析功能:
    采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
    样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
    可检测元素范围：Ti22 – U92
    可同时测定5层/15种元素/共存元素校正贵金属检测，如Au karat评价 材料和合金元素分析，材料鉴别和分类检测液体样品分析，如镀液中的金属元素含量多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析
   调整和校正功能: 系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移测量自动化功能  鼠标激活测量模式：“PointShoot”多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式 测量位置预览功能 激光对焦和自动对焦功能
样品台程控功能: 设定测量点, 连续多点测量, 测量位置预览(图表显示)
统计计算功能平均值、标准偏差、相对标准偏差、zui大值、zui小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图 数据分组、X-bar/R图表、直方图 数据库存储功能
任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书
系统安全监测功能Z轴保护传感器 样品室门开闭传感器操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师