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ImageMaster Universal光学传递函数测量仪，高精度，全波段，全自动测量
ImageMaster Universal光学传递函数测量仪由全欧光学(TRIOPTICS)设计打造，是其公司下性能的产品，可以测量几乎所有的光学系统的参数，同时具有高精度，高分辨率，全波段以及全自动的测量效果，可测量的对象包括有高性能相机镜头，瞄准装置等等
ImageMaster Universal光学传递函数测量仪的技术规格
| 技术规格 | 描述 |
| 系统配置 | 无限-有限共轭系统、有限-有限共轭系统、无焦系统 |
| 离轴角度 | ±120°（可扩展至±180°） |
| 光谱范围 | UV：250 nm-450 nm VIS：450 nm-700 nm NIR：700 nm-1000 nm SWIR：1000 nm-2500 nm MWIR：3 um-5 um LWIR：7 um- 13 um |
| 样品焦距范围 | 5 mm-2000 mm（可扩展） |
| 通光口径 | 450 mm（可扩展） |
| 测量方位角 | 360° |
| 图像高度 | ±50 mm |
| 空间频率 | UV: 100 lp/mm VIS / NIR: 500 lp/mm SWIR: 120 lp/mm MWIR: 80 lp/mm LWIR: 60 lp/mm |
| MTF测量精度 | ±0.02 MTF 轴上 ±0.03 MTF 轴外 |
| MTF测量重复性 | ±0.01 MTF |
| EFL测量精度 | ±0.2 % |
| 畸变测量精度 | ±0.7 % 无编码器 ±0.25 % 带编码器 |
| 畸变测量重复性 | ±0.3 % 无编码器 ±0.1 % 带编码器 |
| 横向色差测量精度 | ±0.5 um |
| 横向色差测量重复性 | ±0.3 um |
| 纵向色差测量精度 | ±1 um |
| 纵向色差测量重复性 | ±0.2 um |
| CRA测量精度 | ±1° |
| CRA测量重复性 | ±0.4° |
| FFL（相对值）测量精度 | ±2 um |
| FFL（相对值）测量重复性 | ±1 um |
| 散光测量精度 | ±4 um |
| 散光测量重复性 | ±1 um |
| 场曲率测量精度 | ±2 um |
| 场曲率测量重复性 | ±1 um |
研发型高精度光学传递函数测量仪的空间频率可以能随着被测样品和光管的焦距比而变化
德国全欧光学(TRIOPTICS)设计、生产的ImageMaster Universal光学传递函数测量仪是ImageMaster光学传递函数测量仪系列中的产品，可以测量几乎所有类型光学系统的光学参数。
高精度光学传函仪ImageMaster使用高精度、长寿命的零部件，采用创新设计的卧式结构，更加使用于中型和更大的镜头检测。例如相机镜头的制造和用于空间探索的航空镜头或透镜的开发。卧式结构的高精度光学传递函数测量仪ImageMaster Universal提供ImageMaster光学传递函数测量仪系列中的精度和极大的稳定性。
研发型高精度光学传递函数测量仪提供了较好的图像质量和较高信噪比的高分辨率光学传递函数测量仪。全欧光学作为的光学检测设备制造厂商，始终保证光学传函仪的测量结果符合国际标准的可追溯性。
ImageMaster Universal高精度光学传递函数测量仪
研发型高精度光学传递函数测量仪的测量参数：
-轴上光学传递函数MTF
-轴外光学传递函数MTF
-离焦光学传递函数MTF
-有效焦距EFL
-相位传递函数PTF
-线扩散函数LSF
-点扩散函数PSF
-主光束角度
-相对透过率
-相对照度
-视场角
-畸变
-像散
-色差
-焦深
-场曲
-F数
高精度光学传函仪ImageMaster的产品特点：
-卧式结构，全自动测量
-可测量直线构型系统、L形构型系统、U形构型系统、空间折转型系统等
-模块化设计、一体化运输、维护保养方便
-平行光管基于离轴抛物面反射镜的设计，覆盖全波段使用。
-整机配置铝制外壳，隔光挡风
-模块化靶标发生器以及探测器，可快速切换
-测量精度可溯源至国际标准
-软件模块化，使用简单易懂
-可编辑脚本，实现用户自定义测量
-直接以报告形式输出结果
-高分辨率光学传递函数测量仪
