可替Max TC 集成电路IC芯片温度冲击测试机

ATC840可替Max TC 集成电路IC芯片温度冲击测试机

参考价: 订货量:
11111 1

具体成交价以合同协议为准
2024-11-19 13:42:28
63
属性:
产地:国产;加工定制:是;温度波动度:±0.5℃;温度范围:-45℃到+200℃℃;
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产品属性
产地
国产
加工定制
温度波动度
±0.5℃
温度范围
-45℃到+200℃℃
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成都中冷低温科技有限公司

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产品简介

可替Max TC 集成电路IC芯片温度冲击测试机,ThermoTST ATC840是一台精密的接触式高低温冲击机,具有更广泛的温度范围-45℃到+200℃,提供了很强的温度转换测试能力。

详细介绍

可替Max TC 集成电路IC芯片温度冲击测试机

ThermoTST ATC840是一台精密的接触式高低温冲击机,具有更广泛的温度范围-45℃到+200℃,提供了很强的温度转换测试能力。


可替Max TC 集成电路IC芯片温度冲击测试机

ThermoTST ATC840通过测试头与DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温或者结温)调整到目标温度点进行相应的性能测试。同时适用于已焊接的芯片和使用socket的芯片,可以真正做到只控制待测芯片温度而不影响外围电路,排除外围电路引起的不确定性。


特点

有效温度范围,-45℃至+200℃

温度稳定性±0.5℃

触摸屏操作,人机交互界面

支持DUT温度控制

桌面设计,低噪音、低震动、低环境散热

温度波动小

低温环境测试无冷凝


 应用

适用于IC特性、测试和失效分析:

ATE, SLT和工作台

高低温测试箱/低温冷却机代换

OEM集成


特点

有效温度范围,-45℃至+200℃

温度稳定性±0.5℃

触摸屏操作,人机交互界面

支持DUT温度控制

桌面设计,低噪音、低震动、低环境散热

温度波动小

低温环境测试无冷凝


 应用

适用于IC特性、测试和失效分析:

ATE, SLT和工作台

高低温测试箱/低温冷却机代换

OEM集成


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