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Air chiller System气体制冷机
¥8888Air Cooling System气体制冷机
¥8888热流罩 冷热循环冲击气流测试机
¥11111高低温冲击设备ThermoTST热流仪
¥11111芯片动态老化测试系统Small Burn-in Tester
¥11111Small Burn-in Tester芯片老化测试
¥11111电子元器件动态老化测试系统
¥11111芯片动态老化测试系统
¥11111芯片老化测试Small Burn-in Tester
¥11111电阻电容温度系数测试系统
¥11111电阻 器件温度系数测试系统
¥11111导通电阻评估系统 冷热冲击试验箱
¥11111可替Max TC 集成电路IC芯片温度冲击测试机
ThermoTST ATC840是一台精密的接触式高低温冲击机,具有更广泛的温度范围-45℃到+200℃,提供了很强的温度转换测试能力。
可替Max TC 集成电路IC芯片温度冲击测试机
ThermoTST ATC840通过测试头与DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温或者结温)调整到目标温度点进行相应的性能测试。同时适用于已焊接的芯片和使用socket的芯片,可以真正做到只控制待测芯片温度而不影响外围电路,排除外围电路引起的不确定性。
特点
有效温度范围,-45℃至+200℃
温度稳定性±0.5℃
触摸屏操作,人机交互界面
支持DUT温度控制
桌面设计,低噪音、低震动、低环境散热
温度波动小
低温环境测试无冷凝
应用
适用于IC特性、测试和失效分析:
ATE, SLT和工作台
高低温测试箱/低温冷却机代换
OEM集成
特点
有效温度范围,-45℃至+200℃
温度稳定性±0.5℃
触摸屏操作,人机交互界面
支持DUT温度控制
桌面设计,低噪音、低震动、低环境散热
温度波动小
低温环境测试无冷凝
应用
适用于IC特性、测试和失效分析:
ATE, SLT和工作台
高低温测试箱/低温冷却机代换
OEM集成