FEI SEM Apreo 扫描电镜-广州思博科技设备有限公司手机版

详细介绍

功能丰富的高性能 SEM

Apreo 革命性的复合透镜设计结合了静电和磁浸没技术，可产生的高分辨率和信号选择。这使得 Apreo 成为研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台，并且不会降低磁性样品性能。

Apreo 受益于的透镜内背散射探测，这种探测提供的材料对比度，即使在倾斜、工作距离很短或用于敏感样品时也不例外。新型复合透镜通过能量过滤进一步提高了对比度并增加了用于绝缘样品成像的电荷过滤。可选低真空模式，现在的样品仓压力为 500 Pa，可以对要求最严苛的绝缘体进行成像。

通过这些优势（包括复合末级透镜、高级探测和灵活样品处理），Apreo 可提供出色的性能和多功能性，帮助您应对未来的研究难题。