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S100IC电气特性测试数字源表
IC电气特性测试数字源表标准的SCPI指令集，Y秀的性价比，良好的售后服务与技术支持，集电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载功能于一体，支持四象限工作 参考价￥1000 -
S100/S200/S300双极性电源数字源表
双极性电源数字源表标准的SCPI指令集，Y秀的性价比，良好的售后服务与技术支持，集电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载功能于一体，支持四象限工作 参考价￥1000 -
S200B漏电流 开短路测试 电气特性测试数字源表
芯片测试作为芯片设计、生产、封装、测试流程中的重要步骤，是使用特定仪器，通过对待测器DUT(DeviceUnderTest)的检测，区别缺陷、验证器件是否符合设计目标、分离器件好坏的过程。常用的测试方法是FIMV（加电流测电压）及FVMI（加电压测电流）。数字源表可作为独立的恒压源或恒流源、电压表、电流表和电子负载，支持四象限功能，漏电流 开短路测试 电气特性测试数字源表就找普赛斯仪表 参考价￥1000 -
SPA6100半导体特性曲线仪IV+CV测试机
武汉普赛斯仪表半导体特性曲线仪IV+CV测试机具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试，旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发，具有桌越的测量效率与可靠性。 参考价￥1000 -
S100B半导体分立器件电性能iv测试系统
武汉普赛斯是国内醉早生产源表的厂家，产品系列丰富：产品覆盖不同的电压、电流范围，产品已经过了市场的考验，市场应用率高；SXXB系列高精度数字源表，相比于传统S系列源表，直流更大、精度更高、准确度提升至±0.03%，直流电流升级至3A，PX00B系列蕞大脉冲输出电流达30A，蕞大输出电压达300V，支持四象限工作，可为半导体行业提供更加精准、稳定的测试方案，半导体分立器件电性能iv测试系统就找普赛斯 参考价￥1000 -
PMST-3500V大功率分立器件半自动测试仪
普赛斯仪表专业研究和开发半导体材料与器件测试的专业智能装备，产品覆盖半导体领域从晶圆到器件生产全产业链。推出基于高精度数字源表(SMU）的第三代半导体功率器件静态参数测试方案，为SiC和GaN器件提供可靠的测试手段，实现功率半导体器件静态参数的高精度、高效率测量和分析。如果您对大功率分立器件半自动测试仪感兴趣，欢迎随时联系我们 参考价￥10000 -
SPA6100宽量程半导体分析测试仪
SPA-6100宽量程半导体分析测试仪可以帮助用户根据测试需要，灵活选配测量单元进行升级。产品支持Z高1200V电压、100A大电流、1pA小电流分辨率的测量，同时检测10kHz至1MHz范围内的多频AC电容测量。 参考价￥1000 -
PL202脉冲恒电流电源30A脉冲电源
PL202脉冲恒电流电源30A脉冲电源超窄至1us的脉宽,大到30A的脉冲电流,兼容CW和QCW模式,丰富的软件接口，可广泛用于LD脉冲电流、脉冲电压、PD光电流、背光二极管暗电流测试； 参考价￥1000 -
PMST-3500VSiC GaN三代半功率器件参数分析仪
SiC功率半导体因优势成行业热点，但面临复杂应力挑战。性能表征测试分静态和动态，要求高。普赛斯提供一站式高精密测试解决方案，满足行业高精度、大范围测试需求，具有模块化设计，易用且可扩展。 SiC GaN三代半功率器件参数分析仪认准普赛斯仪表咨询 参考价￥10000 -
S系列数字源表IV扫描电子皮肤电性能参数
数字源表IV扫描电子皮肤电性能参数就找普赛斯仪表，系统可以模拟扭、转、弯、折、卷等5种基本测试动作, 11个基础模拟测试动作,实现一机多用,让柔性测试标准化。不仅可以测试柔性材料的折、弯、扭、拉、卷等五种基本动作,而且可以进行柔性材料的I-V特性测试,是目前研究柔性材料的重要测试系统,能够大幅提升开发验证效率和降低测试成本。 参考价￥1000 -
S系列柔性传感器电性能测试源表IV曲线扫描
柔性传感器电性能测试源表IV曲线扫描可以模拟扭、转、弯、折、卷等5种基本测试动作, 11个基础模拟测试动作,实现一机多用,让柔性测试标准化。不仅可以测试柔性材料的折、弯、扭、拉、卷等五种基本动作,而且可以进行柔性材料的I-V特性测试,是目前研究柔性材料的重要测试系统,能够大幅提升开发验证效率和降低测试成本。 参考价￥1000 -
S200MEMS芯片VI测试数字源表
MEMS芯片VI测试数字源表集电压、电流的输入输出及测量等功能于一体。可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载。其高性能架构还允许将其用作脉冲发生器，波形发生器和自动电流-电压(I-V)特性分析系统，支持四象限工作。 参考价￥1000