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PL202脉冲恒电流电源30A脉冲电源
PL202脉冲恒电流电源30A脉冲电源超窄至1us的脉宽,大到30A的脉冲电流,兼容CW和QCW模式,丰富的软件接口，可广泛用于LD脉冲电流、脉冲电压、PD光电流、背光二极管暗电流测试； 参考价￥1000 -
PMST-3500VSiC GaN三代半功率器件参数分析仪
SiC功率半导体因优势成行业热点，但面临复杂应力挑战。性能表征测试分静态和动态，要求高。普赛斯提供一站式高精密测试解决方案，满足行业高精度、大范围测试需求，具有模块化设计，易用且可扩展。 SiC GaN三代半功率器件参数分析仪认准普赛斯仪表咨询 参考价￥10000 -
S系列数字源表IV扫描电子皮肤电性能参数
数字源表IV扫描电子皮肤电性能参数就找普赛斯仪表，系统可以模拟扭、转、弯、折、卷等5种基本测试动作, 11个基础模拟测试动作,实现一机多用,让柔性测试标准化。不仅可以测试柔性材料的折、弯、扭、拉、卷等五种基本动作,而且可以进行柔性材料的I-V特性测试,是目前研究柔性材料的重要测试系统,能够大幅提升开发验证效率和降低测试成本。 参考价￥1000 -
S系列柔性传感器电性能测试源表IV曲线扫描
柔性传感器电性能测试源表IV曲线扫描可以模拟扭、转、弯、折、卷等5种基本测试动作, 11个基础模拟测试动作,实现一机多用,让柔性测试标准化。不仅可以测试柔性材料的折、弯、扭、拉、卷等五种基本动作,而且可以进行柔性材料的I-V特性测试,是目前研究柔性材料的重要测试系统,能够大幅提升开发验证效率和降低测试成本。 参考价￥1000 -
S200MEMS芯片VI测试数字源表
MEMS芯片VI测试数字源表集电压、电流的输入输出及测量等功能于一体。可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载。其高性能架构还允许将其用作脉冲发生器，波形发生器和自动电流-电压(I-V)特性分析系统，支持四象限工作。 参考价￥1000 -
S200光伏电池片特性曲线测试VI源表
光伏电池片特性曲线测试VI源表是对太阳能电池和各种其他器件的I-V特性进行表征的最佳解决方案。其宽广的电流和电压测量范围，可以为科研及生产制造提供着越的测量性能。结合太阳光模拟器以及专用的上位机软件，支持自动扫描I-V特性曲线以及开路电压、短路电流、最大功率、填充因子、转换效率等参数的测量，能极大简化太阳能电池I-V测试效率，可以比以前更精确、更轻松的表征器件。 参考价￥1000 -
S200B晶圆/芯片微弱电流测试VI源表
武汉普赛斯仪表晶圆/芯片微弱电流测试VI源表标准的SCPI指令集，Y秀的性价比，良好的售后服务与技术支持，集电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载功能于一体，支持四象限工作 参考价￥1000 -
SPA-6100半导体器件参数测试仪iv+cv曲线分析
半导体器件参数测试仪iv+cv曲线分析具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试，旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发，具有桌越的测量效率与可靠性。 参考价￥1000 -
PMST-2200VIGBT|SiC功率半导体器件测试设备
武汉普赛斯IGBT|SiC功率半导体器件测试设备是一款能够提供IV、 CV、跨导等丰富功能的综合测试系统，具有高精度、宽测量范围、模块化设计、轻松升级扩展等优势，旨在全面满足从基础功率二极管、MOSFET、BJT、IGBT到宽禁带半导体SiC、GaN等晶圆、芯片、器件及模块的静态参数表征和测试，并具有优秀的测量效率、一致性与可靠性。让任何工程师使用它都能变成行业专家。 参考价￥10000 -
PL202电流脉冲电源窄脉宽
PL202型电流脉冲电源窄脉宽超窄至1us的脉宽,大到30A的脉冲电流,兼容CW和QCW模式,丰富的软件接口，可广泛用于LD脉冲电流、脉冲电压、PD光电流、背光二极管暗电流测试； 参考价￥1000 -
S200B直流特性IV曲线测试数字源表
武汉普赛斯直流特性IV曲线测试数字源表集电压、电流的输入输出及测量等功能于一体。可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载。其高性能架构还允许将其用作脉冲发生器，波形发生器和自动电流-电压(I-V)特性分析系统，支持四象限工作。 参考价￥1000 -
S系列柔性电阻材料测试用数字源表
武汉普赛斯柔性电阻材料测试用数字源表集电压、电流的输入输出及测量等功能于一体。可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载。其高性能架构还允许将其用作脉冲发生器，波形发生器和自动电流-电压(I-V)特性分析系统，支持四象限工作 参考价￥1000