PMST2210igbt静态参数测试机igbt检测仪
PMST系列igbt静态参数测试机igbt检测仪采用普赛斯自主开发的测试主机，内置多种规格电压、电流、电容测量单元模块。结合专用上位机测试软件，可根据测试项目需要，设置不同的电压、电流等参数，以满足不同测试需求。测试数据可保存与导出，并可生成I-V以及C-V特性曲线 参考价￥1000
liv60201liv特性曲线扫描脉冲电源恒流脉冲源
武汉普赛斯liv特性曲线扫描脉冲电源恒流脉冲源用于光通行业的LD、TO-CAN、TOSA、EML以及碟形器件的TEC温度控制、LIV特性曲线、PV特性曲线和特性参数测试，以及光谱特性测试（需要外接光谱仪）。系统集温控器、电流源、电压源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体，体积小、测试速度快、精度高，可以极大的提高器件测试的产量和质量 参考价￥1000
liv60201liv特性曲线扫描脉冲电流源
武汉普赛斯liv特性曲线扫描脉冲电流源用于光通行业的LD、TO-CAN、TOSA、EML以及碟形器件的TEC温度控制、LIV特性曲线、PV特性曲线和特性参数测试，以及光谱特性测试（需要外接光谱仪）。系统集温控器、电流源、电压源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体，体积小、测试速度快、精度高，可以极大的提高器件测试的产量和质量 参考价￥1000
SM11041多通道台式源表国产
SM系列多通道台式源表国产能够同时输出和测量电压电流，蕞大支持±10V，±100mA直流/脉冲输出，最小脉宽可达100μs。支持千兆以太网及RS422串口通信，支持源表标准SCPI指令集，支持多台源表同步触发，提高了系统测试效率并降低成本 参考价￥1000
SPA6100国产品牌半导体参数分析仪
SPA6100型国产品牌半导体参数分析仪配置有多种不同规格的SMU，如低压直流SMU、低压脉冲SMU、大电流SMU；用户可根据测试需求灵活配置不同规格，以及不同数量的搭配 参考价￥1000
PXIe-51808通道精密源表插卡式数字源表
PXle-5180型8通道精密源表插卡式数字源表能够同时输出和测量电压电流，最大支持±10V，±500mA直流/脉冲输出，最小脉宽可达100μs。支持源表标准SCPI指令集，支持PXIeTrigger及前面板DIO同步触发，提高了系统测试效率并降低成本 参考价￥1000
P100B半导体分立器件测试仪
半导体分立器件特性参数测试是对待测器件（DUT）施加电压或电流，然后测试其对激励做出的响应；通常半导体分立器件特性参数测试需要几台仪器完成，过程既复杂又耗时，还占用过多测试台的空间。实施特性参数分析的工具之一是普赛斯历时多年打造了高精度、大动态范围、帅先国产化的数字源表系列产品，集电压、电流的输入输出及测量等功能于一体，半导体分立器件测试仪认准普赛斯仪表 参考价￥1000
PMST2210igbt性能测试仪器失效分析等
武汉普赛斯PMST系列igbt性能测试仪器失效分析等覆盖IV,CV,跨导等丰富测试功能,全量程0.1%精度,15us超快上升沿,支持恒压限流,恒流限压模式,可定制化夹具,用于晶圆,芯片,器件,模块及IPM全面测试 参考价￥10000
E300功率半导体测试3500V高压脉冲电源
E系列功率半导体测试3500V高压脉冲电源具有输出及测量电压高（3500V）、能输出及测量微弱电流信号（1nA）的特点。设备工作在第一象限，输出及测量电压0~3500V，输出及测量电流0~100mA。支持恒压恒流工作模式，同时支持丰富的I-V扫描模式。 参考价￥1000
PLT1403ns级脉宽恒流脉冲电源大功率激光器测试
PLT1403型ns级脉宽恒流脉冲电源大功率激光器测试支持ns窄脉冲、直流PIV特性曲线扫描测试和特性参数计算，支持光谱特性测试（需要外接光谱仪）。仪表集脉冲电压源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体，具有体积小、测试速度快、使用简单的特点 参考价￥1000
PLT系列脉冲激励电流源us级恒流脉冲电源
PLT系列脉冲激励电流源us级恒流脉冲电源支持脉冲、直流PIV特性曲线扫描测试和特性参数计算，支持光谱特性测试（需要外接光谱仪）。仪表集脉冲电流源、电流表、电压表和光功率计等功能于一体，具有体积小、测试速度快、使用简单的特点 参考价￥1000
PMST3520大功率半导体测试设备静态参数测试系统
PMST大功率半导体测试设备静态参数测试系统是普赛斯仪表经过精心设计与打造的高精密电压/电流测试分析系统。该系统不仅具备IV、CV、跨导等多元化的测试功能，还拥有高精度、宽测量范围、模块化设计以及便捷的升级扩展等显著优势。它能够全面满足从基础功率二极管、MOSFET、BJT、IGBT到宽禁带半导体SiC、GaN等晶圆、芯片、器件及模块的静态参数表征和测试需求，确保测量效率、一致性与可靠性的着越表现 参考价￥1000

搜索历史