MEMS芯片VI测试数字源表
MEMS芯片VI测试数字源表
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S200MEMS芯片VI测试数字源表

参考价: 订货量:
1000 1

具体成交价以合同协议为准
2024-11-06 14:23:20
122
属性:
产地:国产;加工定制:否;工作环境:25±10℃;测试范围:±300mV~±300V/±10pA~±30A;分辨率:30μV/1pA;
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产品属性
产地
国产
加工定制
工作环境
25±10℃
测试范围
±300mV~±300V/±10pA~±30A
分辨率
30μV/1pA
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武汉普赛斯仪表有限公司

武汉普赛斯仪表有限公司

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产品简介

MEMS芯片VI测试数字源表集电压、电流的输入输出及测量等功能于一体。可作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表,还可用作精密电子负载。其高性能架构还允许将其用作脉冲发生器,波形发生器和自动电流-电压(I-V)特性分析系统,支持四象限工作。

详细介绍

半导体电性能测试应用的专业领域十分广泛,分别有:微电子、集成电路、物理与电子工程、航空航天、材料科学与工程、材料与能源、电子科学与工程、光电信息与能源工程等等等...

数字源表作为电学测量的常用仪器,在高校和研究所的相关实验室内几乎都能看到,源表集多表合一、配上专业软件即可实现各种定制测量,使用非常广泛。 S型数字源表在一个半机架尺寸的仪器中结合了电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载等功能,这些测试功能,令S型触摸屏数字源表具有I-V特性测试系统、曲线追踪仪和半导体分析仪的各种测试能力,而成本更低廉。MEMS芯片VI测试数字源表认准普赛斯仪表咨询


VI测试数字源表都有哪些应用呢?

实验篇

在实际应用中,不同专业领域所进行的电性能测试实验是不同的,下面就来展示一些典型的实验现象。

I-V特性测试

电流电压我都要,性能测试有一套!

MEMS芯片VI测试数字源表


C-V特性测试

MEMS芯片VI测试数字源表



输入/输出特性测试

MEMS芯片VI测试数字源表

输入特性曲线

MEMS芯片VI测试数字源表

输出特性曲线


反向击穿电压测试

MEMS芯片VI测试数字源表


讲到这里,小编还是要说一句,半导体电性能测试实验远远不止这些,在各种实验项目中,多功能数字源表不可缺。

普赛斯仪表专注于半导体电性能测试领域,基于高精度数字源表综合实验平台,可提供多种实验测量环境,搭配丰富的测试夹具及实验器材,满足半导体电性能测试需求,提高测试效率。

MEMS芯片VI测试数字源表认准生产厂家武汉普赛斯!普赛斯S系列数字源表标准的SCPI指令集,Y秀的性价比,良好的售后服务与技术支持,集电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载功能于一体,支持四象限工作



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