普赛斯仪表A400半导体功率循环测试数据采集卡，是一款普赛斯自主设计开发的插卡式，支持可变速率采样和大容量数据存储的高精度数据采集卡。采集卡使用高性能ADC芯片，分辨率可达16bits，最高支持2MS/s采样率。单采集卡支持4通道，且通道间隔离。采集卡可应用于我司3插卡或10插卡主机上，单主机最高支持40通道。

产品具有采样速度快，分辨率高，通道互相隔离等特点，因此，可广泛应用于各类型功率半导体功率循环，可靠性测试，以及其他工业场景等数据采集。

产品特点：

插卡式设计，4通道/插卡，最高支持40通道

各通道互相隔离，通道间耐压＞500V

16位A/D分辨率

支持变速率采样，最高可达2MS/s采样率

支持大容量数据存储

采集精度高，多电压量程

软件兼容性广，支持Labview，C/C++等

技术参数：                                                                                                                           

半导体功率循环测试数据采集卡应用领域：

功率半导体功率循环，可靠性测试，以及其他工业场景等数据采集。

普赛斯以自主研发为导向，深耕半导体测试领域，在I-V测试上积累了丰富的经验，先后推出了直流源表，脉冲源表、脉冲恒流源、脉冲恒压源、功率器件静态测试系统、大功率激光器老化测试系统等测试设备，广泛应用于高校研究所、实验室，新能源，光伏，风电，轨交，变频器等场景。普赛斯全新升级S系列数字源表更大直流,更高精度,科研实验需备源表,标准的SCPI指令集,上位机软件功能丰富,半导体测试领域的经典产品!