普赛斯仪表 品牌
生产厂家厂商性质
武汉市所在地
功率半导体可靠性测试数据采集卡概述
A400数据采集卡,是一款普赛斯自主设计开发的插卡式,支持可变速率采样和大容量数据存储的高精度数据采集卡。
采集卡使用高性能ADC芯片,分辨率可达16bits,最高支持2MS/s采样率。单采集卡支持4通道,且通道间隔离。采集卡可应用于我司3插卡或10插卡主机上,单主机最高支持40通道。
产品具有采样速度快,分辨率高,通道互相隔离等特点,因此,可广泛应用于各类型功率半导体功率循环,可靠性测试,以及其他工业场景等数据采集。
产品特点:
插卡式设计,4通道/插卡,最高支持40通道
各通道互相隔离,通道间耐压>500V
16位A/D分辨率
支持变速率采样,最高可达2MS/s采样率
支持大容量数据存储
采集精度高,多电压量程
软件兼容性广,支持Labview,C/C++等
技术参数:
项目 | 技术指标 |
单卡通道数 | 4 |
通道隔离 | 支持,隔离耐压>500V |
ADC分辨率 | 16bits |
最高采样率 | 2MS/s |
采样频率 | 可配置 |
单卡存储深度 | 128MB |
输入信号带宽 | 500KHz |
输入阻抗 | 1GΩ |
输入电压量程 | ±0.625V、±1.25V、±2.5V、±5V、±10V、±12V |
数学运算 | 支持变速率采样 |
触发方式 | 支持软件触发,外部IO触发 |
单卡尺寸 | 40 mm * 264 mm * 410 mm(L*H*D) |
主机箱通信 | RS-232 / GPIB / LAN |
主机箱输入电源 | AC: 100~240V, 50/60HZ,最大功率1000W |
工作温度 | 0~50℃ |
储存温度 | -20~80℃ |
功率半导体可靠性测试数据采集卡应用领域:
功率半导体功率循环,可靠性测试,以及其他工业场景等数据采集。