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法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析仪相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等*的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！
PHASICS波前探测器配套的软件界面友好，可直观的输出高分辨率相位图和光束强度分布图。
◆高分辨率（高达300 x400个采样点) ◆消色差 ◆高动态范围 ◆高灵敏度 ◆操作简便 ◆设计简洁紧凑
◆高分辨率的相位图能够提供高分辨率的相位图。标准分辨率为160ｘ120个采样点，分辨率可达400ｘ300。高分辨率的探测器能精确测量镜片像差，并能做到较高的测量重复性。
◆具有直接测量高发散光束的能力我们的波前探测技术具有直接测量光路系统相差的能力，并且无需额外的过渡镜。
◆消色差SID4探测器能够匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准，也能用于多色光源。
◆对准方便SID4探测器无需精确的，很繁冗的校准步骤，分析算法为校准波前探测器提供便利。
◆符合人体工程学原理设计紧凑的SID4探测器配置了电脑和专用KALEO软件，其友好的人机界面使光学测量过程更符合人体工程学原理。
◆光学测量专用的KALEO软件SID4探测器为光学测量配置了专用的Kaleo软件。该软件允许在一次测量中提供完整的测量项目的光学量值特征：相差，PSF，MTF，有效焦距等。定制的特征报告也可编辑。
| 型号 | SID4 UV-HR | SID4 | SID4 HR | SID4 NIR | SID4 SWIR | SID4 IR-MCT | SID4 DWIR | SID4 LWIR |
| 波长 | 190 – 400 nm | 400 – 1100 nm | 400 – 1100 nm | 1,5 – 1,6 µm | 0,4 – 1,7 µm | 1,2 – 5,5 µm | 3 – 5 µm and 8 – 14 µm | 8 – 14 µm |
| 孔径 | 8.0 × 8.0 mm² | 3.6 × 4.8 mm² | 8.9 × 11.8 mm² | 3.6 × 4.8 mm² | 9.6 × 7.68 mm² | 9.60 x 7.68 mm² | 10.08 ×8.16mm² | 16 x 12 mm² |
| 空间分辨率 | 32 µm | 29,6 µm | 29,6 µm | 29,6 µm | 60 µm | 60 µm | 68 µm | 100 µm |
| 采样点 | 250 x 250 | 160 x 120 | 300 x 400 | 160 x 120 | 160 x 128 | 160 x 128 | 160 x 120 | 160 x 120 |
| 精度 (精度) | 10 nm RMS | 10 nm RMS | 15 nm RMS | 15 nm RMS | 15 nm RMS | 75 nm RMS | 75 nm RMS | 75 nm RMS |
| 分辨率（灵敏度） | 0,5nm RMS | < 2 nm RMS | < 2 nm RMS | <11nm MS | <2 nm RMS | < 3 nm RMS | 25 nm RMS | 25 nm RMS |
| 动态范围 | > 200 µm | > 100 µm | > 500 µm | > 100 µm | > 100 µm | 300 µm | > 100 µm | > 100 µm |
| 采样频率 | 30 fps | > 100 fps | > 30 fps | 60 fps | 120 fps | 140 fps | > 50 fps | 40 fps |
◆激光束质量分析
◆自适应光学
◆光学元件表面测量
◆生物成像
◆热成像，等离子体表面物理
更多波前分析仪型号：
