产品系列
晶体管图示仪

半导体分立器件测试筛选系统

静态参数测试（包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等）

动态参数测试（包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等）

环境老化测试（包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等）

热特性测试（包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等）

可测试 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件

欢迎垂询：Tel:173 -4295 -2894

ENJ-3020 测试系统

莱姆IGBT测试系统替代品天光测控IGBT测试仪

莱姆IGBT全自动测试系统替代品天光测控大功率IGBT静态测试仪

ENJ-3020  IGBT静态参数测试系统

系统概述

ENJ—3020测试系统（以下简称系统）是西安天光测控技术有限公司推出的IGBT静态测试系统，该系统符合国家标GJB128-86和国家标准GB/T 4587-94测试规范。

系统适合工厂、研究所用做IGBT及其模块的筛选、检验、分析以及器件生产厂用做生产测试，是一款针对IGBT的各种静态参数而研制的智能测试系统。

系统标准功率源为3500V/200A，电流可扩展至2000A。

系统的自动化程度高，按照操作人员设定的程序自动工作，实现全自动化的智能测试，计算机记录测试结果，测试结果可转化为文本或 EXCEL 格式存储。测试方法灵活，可*测试器件以及单个单元和多单元的模块测试。

系统采用品牌工控机，具有抗电磁*力强，排风量大等特点

系统安全稳定，PLC 对设备的工作状态进行全程实时监控并与硬件进行互锁。

其控制系统主要由计算机控制系统和PLC控制系统组成：

计算机控制系统

计算机控制系统是该测试设备的中心控制单元，设备有一部分的工作程序、工作时序、开关的动作状态，数据采集等均由计算机完成。计算机

采用研华工业控制机，具有抗电磁*力强，排风量大等特点。

计算机中，装有美国国家仪器公司生产的数据采集卡NI PCI6221卡2块，NI PCI6221是一块多功能的数据采集卡，具有三组数据端口，16/8个

模拟量输入端口，两个模拟量输出口、两个定时器计数器。

PLC控制系统

控制系统除工控机外，还采用了欧姆龙系列的PLC，PLC主要对设备的工作时序、开关动作等进行控制，并且与计算机进行通讯，完成了整个系统的自动控制功能；PLC不仅控制开关的动作，而且对系统中主要开关的工作状态进行实时监控，并与硬件进行互锁，实现了可靠的安全控制功能。

系统特征

针对IGBT的各种静态参数而研制的智能测试系统

大功率（IV可扩展至4500A，6000V）

自动化程度高（按照操作人员设定的程序自动工作）

计算机记录测试结果，测试结果可转化文本或EXECL格式存储

采用品牌工控机，具有抗电磁*力强，排风量大等特点

测试方法灵活（可*测试器件以及单个和多单元的模块测试）

安全稳定（PLC对设备的工作状态进行全程实时监测并与硬件进行互锁）

莱姆IGBT测试系统替代品天光测控IGBT测试仪

测试范围

EN-3020C系统是专为测试IGBT而设计。能够真实准确测试出IGBT的各种静态参数：其测试范围如下：

1）栅极-发射极漏电流测试                     VGES、IGES

2）栅极-发射极阈值电压测试                   Vge（th）

3）集电极-发射极电压测试测试                 VCES、ICES

4）集电极-发射极饱和电压测试测试             Vge（sat）、IC

5）二极管压降测试测试                        VF、IF

6）二极管反向可恢复直流电压测试          VR、IR

外形尺寸和电源要求

尺 寸：  800×800×1800（mm）

质 量：  210kg

环境温度：15~40℃

工作电压：AC220V±10%无严重谐波

电网频率：50Hz±1Hz

通信接口：USB RS232

系统功耗：380W

欢迎垂询：Tel:173 -4295 -2894