免费会员 经销商
参考价：
-
- 面议
ST2000系列 薄膜厚度测量仪
具体成交价以合同协议为准
2018-05-15
- 型号
- ST2000系列
AFCID单纤光缆识别仪;偏振相关损耗测试设备;消光比测试仪;偏振膜色散仿真仪;偏振扰偏器;偏振分析仪;偏振PDL/IL/RL测试仪;偏振控制器等;LED性能综合测试仪;棱镜耦合测试仪;膜厚测试仪;AWG 芯片和模块;1N splitter芯片和模块;各种光学、半导体自动切割刀片（树脂和金属材料）；提供半导体高精度（3微米）自动检测包装设备方案
产品简介
产品说明本仪器是把UV-Vis光照在测量对象上，利用从测量对象中反射出来的光线测量膜的厚度的产品。这种产品主要用于研究开发或生产导电体薄膜现场，特别在半导体及有关Display工作中使用。
详细信息
产品说明
本仪器是把UV-Vis光照在测量对象上，利用从测量对象中反射出来的光线测量膜的厚度的产品。
这种产品主要用于研究开发或生产导电体薄膜现场，特别在半导体及有关Display工作中作为In-Line monitoring 仪器使用。
产品特性
1) 因为是利用光的方式，所以是非接触式，非破坏式，不会影响实验样品。
2) 可获得薄膜的厚度和 n,k 数据。
3) 测量迅速正确，且不必为测量而破坏或加工实验样品。
4) 可测量 3层以内的多层膜。
5) 根据用途可自由选择手动型或自动型。
6) 产品款式多样，而且也可以根据顾客的要求设计产品。
7) 可测量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 3“ )
8) Table Top型, 适用于大学,研究室等
产品型号/规格
The advantage of infinity - corrected optics Optics solve the problem of coma aberration by using a new tube lens
| Stage Size | 150 x 120mm(70 x 50mm Travel Distance) |
| Measurement Range | 200Å~ 35μ m(Depends on Film Type) |
| Spot Size | 20μm Typically |
| Measurement Speed | 1 sec/site Typically |
| Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 .. Semiconductors : Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS... ＊Supporting up to 3 Layers ＊Supporting Backside Reflection |
| Head | Trinocular Head |
| Nosepiece | Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt |
| Total Magnification | 40X ~ 500X |
| Type of Illuminati | 12v 20W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transform |
相关技术文章
