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PS3000系列 扰偏器

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2018-05-15
型号
PS3000系列
武汉维思特科技有限公司

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产品简介
高速扰偏; 全单模光纤结构; 输入偏振相关; 宽波长的操作范围(大于40nm) 低损耗(< 0.7 dB 典型) 低偏振模色散(< 0.2 ps 典型) 可模块化 GPIB & RS232 远程通讯接口 即插即用
详细信息

快速扰偏器PS3000系列

  在高速光通讯网络系统的设计中,光波的偏振是不容忽视的一个重要因素。随着速率的提高,光纤通讯系统对偏振相关损害越来越敏感。这类损害包括:光纤中的偏振模色散(PMD),无源光器件中的偏振相关损耗(PDL),电光调制器中的偏振相关调制(PDM),光放大器中的偏振相关增益(PDG),WDM滤波器中的偏振相关波长(PDW),接收机中的偏振相关响应(PDR),传感器和相干通讯系统中的偏振相关灵敏度(PDS)。
    PS3000
系列扰偏器利用高速的扰偏技术可以将偏振度(DOP)降至零度。它基于全光纤结构,可以实现零插损。扰偏技术可用来减轻偏振相关损害。一束*偏振光,如果它的偏振态(SOP)受到外来因素的控制,以某一个速率发生随机变化,那么这束光就被称为扰偏光。扰偏光在任何瞬时的偏振态的偏振度(DOP)都接近1。然而,从平均时间上看,它的DOP接近0。所以,扰偏光的DOP取决于平均时间取值的长度或探测器的检测带宽。

应用:
1.
解决长段通信系统中的偏振相关增益
一个EDFA当时间常数是大约为1毫秒时,由偏振烧空效应(PHB)产生偏振相关增益。能够除去一长串EDFA链中的偏振相关增益。如果光信号偏振扰频快于EDFA的响应时,偏振相关增益将得到抑制。

2.
去除偏振相关影响的器件测试
光器件都有自身的偏振相关损耗(PDL),由于偏振相关损耗(PDL)导致器件检测的结果出现误差。被用于进行偏振无关测试的去偏光源上。并使测试系统能够得出待测器件的精确数值,例如插损、滤波片的情况等。
3.
使用在偏振相关测试仪表上
一些测试仪表常常有偏振相关效应发生,这将增加测试误差的可能性,可以去掉象光谱仪这样设备的偏振相关性。

4.
消除光纤干涉计中偏振产生的相位噪音或错误
在光纤干涉计和传感系统由于偏振可能导致相位噪音和错误。能够去除象可调谐激光器,DFB激光器之类的单频光源。因为偏振被快速调整过程中,传感信号和传感系统的物理数量都需要被精确测量。

5.
消除光通信实验中的偏振影响
能够快速产生随机的偏振态,这将被应用到需要偏振不断变化的实验测试中。

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