中级会员第 9 年生产厂家
参考价：
-
- 面议
FISCHERSCOPE®X射线XUL X-Ray镀层测厚仪
具体成交价以合同协议为准
2022-03-04苏州市
- 型号
- FISCHERSCOPE®X射线XUL
该企业相似产品
光谱仪、质谱、色谱仪（ROHS卤素分析仪，镀层分析，地矿分析等），ICP / ICPMS , LC / LCMS , GC / GCMS , AAS , AFS , OES , TOC ，PM2.5等实验室设备，膜厚仪。
产品简介
这是一款入门级的X-Ray镀层测厚仪，专业用于电镀镀层厚度的检测，电镀及表面处理是生产制造中很重要的一个环节，也关乎着很多产品的质量，包括电子电器产品、航空航天、轨道交通、汽车制造等等，在电镀及表面处理行业里，镀层厚度是企业成本的关键，也是电镀类产品质量的指标之一，所以有一款能快速、方便的检测出电镀层厚度的仪器，是电镀企业*的帮手。
详细信息
入门级X射线荧光分析
FISCHERSCOPE®X射线XUL®系列正是每个电镀车间的基础设备。这些简单易用且价格适中的能量色散X射线荧光分析仪非常适合监控镀液成分，但在质量控制方面也是*的帮手：坚固耐用，非常适合测量批量生产的零件（如螺母和螺栓）上的电镀层 。
XUL/XULM系列的所有X射线光谱仪操作简单直观。较大的样品可以简单地手动放在测量室中；或者，对于较小的物品（例如插头），仪器可以配备手动样品台。尽管测量设备紧凑，但它们为您的试样提供了足够的空间-高度可达17厘米。
如果您有多种不同的测量任务，FISCHERSCOPE X射线XULM拥有可互切换的过滤器和准直仪，因此您可以为所有应用创造最佳的测量条件。 此外，XULM具有内置的微聚焦管，即使在测量点微小和镀层很薄的情况下也能提供精确的结果。
X-Ray镀层测厚仪特点
根据DIN ISO 3497和ASTM B 568，用X射线荧光法分析电镀液和测量镀层厚度
- XULM的最小测量点约0.1 mm；XUL最小测量点约0.5 mm
- 钨X射线管或钨微聚焦管（XULM）作为X射线源
- 采用经实践验证的短测量时间的比例接收器
- 准直器：固定或4个自动切换
- 初级过滤器：固定或3个自动切换
- 固定样品台或手动XY载物台
- 用于光学观察测量点的摄像头
- 经认证的全面防护设计；
X-Ray镀层测厚仪应用
电镀层，例如铁上的锌或铁上的锌镍，用于大批量生产的零件（螺母和螺栓）的腐蚀防护
电镀液中金属含量的分析
装饰性涂层 Cr/Ni/Cu/ABS
电子行业连接器和触点上的镀层
我们种类齐全的X射线设计用于高可靠性地测量不同的应用。各行种业包括电子、电镀、汽车、黄金和珠宝等领域的公司以及更多的公司都依赖于FISCHERSCOPE X射线仪器进行质量控制。
相关技术文章
