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XTU-A 精工测厚仪
具体成交价以合同协议为准
2022-03-04苏州市
- 型号
- XTU-A
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光谱仪、质谱、色谱仪（ROHS卤素分析仪，镀层分析，地矿分析等），ICP / ICPMS , LC / LCMS , GC / GCMS , AAS , AFS , OES , TOC ，PM2.5等实验室设备，膜厚仪。
产品简介
XTU是一款设计结构紧凑，模块精密化程度*的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。
该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。
被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
详细信息
该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。
被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
仪器简介：
XTU-A是一款设计结构紧凑，模块精密化程度*的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。
该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。
被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
技术参数：
1. 元素分析范围：氯(Cl)- 铀(U)
2. 涂镀层分析范围：氯(Cl)/锂(Li)- 铀(U)
3. 厚度低检出限：0.005μm
4. 成分低检出限：1ppm
5. 小测量直径0.2mm(小测量面积0.03mm²)
6. 对焦距离：0-30mm
7. 样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm
8. 仪器尺寸：550mm*480mm*470mm
9. 仪器重量：45KG
10. XY轴工作台移动范围：50mm*50mm
11. XY轴工作台大承重：5KG
多元迭代EFP核心算法
专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上，计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发出EFP核心算法，结合先进的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统，只需要少量的标样来校正仪器因子，可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。
单涂镀层应用：如Ni/Fe、Ag/Cu等
多涂镀层应用：如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等
合金镀层应用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等
合金成分应用：如NiP/Fe，通过EFP算法，在计算镍磷镀层厚度的同时，还可精准分析出镍磷含量比例。
重复镀层应用：不同层有相同元素，也可精准测量和分析。
如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，D一层Ni和第三层Ni的厚度均可测量。
仪器优势：
1.一机多用，无损检测
2.小测量面积0.002mm²
3.可检测凹槽0-30mm的异形件
4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测
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