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台式测厚仪CMI760/CMI563SRP-4 面铜探针

具体成交价以合同协议为准

2018-01-31深圳市
型号
参数
产地:国产 加工定制:是
深圳市鼎极天电子有限公司

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膜厚仪,镀层测厚仪,膜厚测试仪,X射线测厚仪,镀层厚度检测仪,X荧光测厚仪
产品简介
台式测厚仪CMI760/CMI563SRP-4 面铜探针*是电测试的接触媒介,为精密型电子五金元器件。SRP-4探针,台式测厚仪CMI760/CMI563,也就是SRP-4探头前端的水晶头。
详细信息

 

   台式测厚仪CMI760/CMI563SRP-4 面铜探针是电测试的接触媒介,为精密型电子五金元器件。SRP-4探针,台式测厚仪CMI760/CMI563,也就是SRP-4探头前端的水晶头。

台式测厚仪CMI760/CMI563SRP-4 面铜探针*

镀层测厚仪应用

CMI900X射线荧光镀层测厚仪,有着非破坏,非接触,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量  ,从质量管理到成本节约有着广泛的应用。

台式测厚仪CMI760/CMI563SRP-4 面铜探针*特点:

利用微电阻原理通过四针式探头进行铜厚测量,符合EN14571测试标准

具有温度补偿功能,测量结果精确且不受铜箔温度影响

配有探针防护罩,确保探针的耐用性,可以在恶劣的使用条件下进行正常检测

可自行替换,更换后无需校准即可使用

台式测厚仪CMI760/CMI563SRP-4 面铜探针*

镀层测厚仪技术参数

主要规格                           规格描述
 
X射线激发系统                   垂直上照式X射线光学系统
 
                                       空冷式微聚焦型X射线管,Be窗
 
                                       标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等
 
                                       功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准

                                        75W(4-50kV,0-1.5mA)-任选
 
                                       装备有安全防射线光闸
 
                                       二次X射线滤光片:3个位置程控交换,多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
 
准直器程控交换系统            zui多可同时装配6种规格的准直器
 
                                       多种规格尺寸准直器任选:

                                       -圆形,如4、6、8、12、20 mil等

                                       -矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

测量斑点尺寸                     在12.7mm聚焦距离时,zui小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)
 
                                       在12.7mm聚焦距离时,zui大测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
 
样品室

 

 

 

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产品参数

产地 国产
加工定制
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