《有色金属材料用多维探测器X射线衍射仪校准规范》征求意见
- 2021/3/23 16:30:26 33859
- 来源：仪表网
X射线衍射仪是利用已知的特征X射线对样品进行扫描，将采集到的晶体学相关数据与通用的标准数据比较，再加以计算从而获得一系列晶体结构信息，主要用于物相的定性、定量分析，以及晶格常数、材料残余内应力、织构等与晶体结构有关的数据的测定。X射线衍射仪主要依靠X射线探测器采集数据，探测器主要包括零维闪烁计数器和正比计数器、一维线阵探测器、二维阵列探测器等。
本规范编制依据：1)该规范按照 JJF 1071-2010《国家计量校准规范编写规则》、JJF 1001—2011《通用计量术语及定义》和 JJF 1059.1—2012《测量不确定度评定与表示》编写。2)先进性：本规范依据 JB/T 9400—2010《X 射线衍射仪 技术条件》检测要求，充分考虑到 X 射线衍射仪的发展现状，根据现有检测设备的条件，制订了本规范的基本原则和编制依据，使本规范具有较好的操作性和规范性。3)创新性：制定后的计量规范确定了一维探测器、二维探测器 X 射线衍射仪的校准项目和方法，有助于推进一维探测器、二维探测器 X 射线衍射仪的应用，对评价设备性能好坏，提高设备的可比性，保证后期测量数据的可靠性具有较好的作用。
本规范依据国家计量技术规范 JJF 1071—2010《国家计量校准规范编写规则》、JJF 1001—2011《通用计量术语及定义》和 JJF 1059.1—2012《测量不确定度评定与表示》编制。
本规范参考了 JJG 629—2014《多晶 X 射线衍射仪检定规程》等相关技术文件。
本规范校准方法为：根据一维、二维探测器的 X 射线衍射仪的主要性能及技术条件要求，确定出其校准项目。X 射线衍射仪的校准项目有外观及通用要求、仪器 2θ角示值误差、仪器 2θ角重复性、仪器分辨力、衍射强度稳定度、能量分辨率和散射效应。依据校准项目，选择满足精度要求的测量器具进行测量。
依据 JJF 1071—2010《国家计量校准规范编写规则》，本规范在组织架构上包括范围、规范性引用文件、概述、计量特性、校准条件、校准项目和校准方法、校准结果表达、复校时间间隔以及附录等内容。
本规范适用于有色金属材料用配备一维或二维探测器的X射线衍射仪的校准。本规范的制定实施有利于多晶 X 射线衍射仪的验收和校准，进一步促进多晶 X 射线衍射仪在各行各业中的运用。(详情请见附件)
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