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CMI243 涂层测厚仪CMI243

具体成交价以合同协议为准

2017-09-30深圳市
型号
CMI243
深圳市鼎极天电子有限公司

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该企业相似产品
镀层测厚仪,X-Ray测厚仪,镀金测厚仪,金厚测试仪,涂镀层测厚仪,铜厚测量仪,厚度检测
产品简介
手持式涂层测厚仪CMI233测量黑色金属底材上的金属镀层厚度,用于紧固件、螺栓、汽车部件、齿轮、管件等表面镀层。
详细信息

涂层测厚仪 CMI243

   手持式涂层测厚仪CMI233测量黑色金属底材上的金属镀层厚度,用于紧固件、螺栓、汽车部件、齿轮、管件等表面镀层。

技术规格:

  • 准 确 度:相对标准片±5%
  • 分 辨 率:0.1μm(0.01mils)
  • 电 涡 流:遵循DIN50984,BS5411 Part 3,ISO2360,ISO21968草案,ASTM B499,ASTM E376
  • 存 储 量:26,500条存储读数
  • 单       位:密耳(mil)、微米(μm ),一键自动转换
  • 统计显示:读数次数、平均值、标准差、zui高zui低值
  • 接       口:RS-232串行输出端口,波特率可调,用于下载至打印机或计算机
  • 显       示:3位数液晶显示屏,字体高度12.7mm(1/2")
  • 尺       寸:长×宽×高=149×79.4×30.2mm
                                         (5 7/8”×3 1/8”×1 3/16”)
  • 重       量:0.26kg(9 oz) 含电池
  • 电       池:9V碱性电池,65小时连续使用

CMI243配置包括:

  •  CMI243主机
  •  ECP-M探头及拆除指南
  •  校准用铁上镀锌标准片组

  • 选购部件
     SMTP-1探头(磁感应探头)
     RS232串行电缆

CMI243探针状况

  CMI243的ECP-M探头专为较难测量的金属覆层设计,此单探头可以测量铁质底材上几乎所有金属覆层,例如锌、镍、铜、铬和镉。更小的探针为极小的、形状特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的测量。

 

 zui小凸面半径 zui小凹面半径 工作高度zui小测量面积直径zui小底材厚度

 1.2mm

 3.5mm

 100mm

2.5mm

 0.3mm(12mils)

 

操作范围

 

 铁上镀层镀层厚度范围  探头
Zn 0-38μm(0-1.5mil) ECP-M
Ni 0-75μm(0-3.0mil ECP-M
Cd 0-38μm(0-1.5mil) ECP-M
Cr 0-38μm(0-1.5mil) ECP-M
Cu 0-10μm(0-0.4mil) ECP-M
非磁性/Fe 0-1270μm(0-50mil) SMP-1

 

 

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