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CMI700的面铜标准片
孔、面铜测厚仪 CMI700系列
CMI760是CMI700系列专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计;采用微电阻和电涡流方式测量表面铜和孔内镀铜厚度。具有多功能性、高扩展性和*的统计功能,统计功能用于数据整理分析。
型号 | CMI760 | CMI760E | 备注 |
名称 | 台式面铜测厚仪 | 台式孔、面铜测厚仪 |
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标配 |
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| SRP-4探针又称水晶头 |
选配 |
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700 SERIES主机参数: