镀层测厚仪X-Strata920  、 CMI900 波谱校正片

镀层测厚仪 X-Strata920系列

镀层测厚仪X-Strata920系列，属于X射线荧光镀层厚度测量仪，广泛应用于PCB、FPC、LED、SMT、连接器、端子、五金产品、汽车零部件、卫浴洁具、珠宝等行业的表面镀层厚度测量、材料分析；是各类电镀产品镀层厚度测量的理想检测工具。

镀层测厚仪X-Strata920系列具有高性价价比，有着非破坏、非接触、多合金测量、测量元素范围广、测量精准、测量时间短等特点；具有高生产力、高再现性，能有效控制产品质量，节约电镀成本。

镀层测厚仪X-Strata920工作特点：

• 测量精度高、稳定性好，测量结果精确至μin
• 快速无损测量，测量时间短，10秒内得出测量结果
• 可定性、半定量和定量分析
• 进行贵金属检测，如Au karat评价
• 材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析
• 强大的数据统计、处理功能：平均值、标准偏差、相对标准偏差、zui大值、zui小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图，数据分组、X-bar/R图表、直方图
• 结果输出：直接打印或一键导出到PDF、Excel文件；报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等
• 测量位置预览功能；高分辨率彩色CCD样品观察系统，标准光学放大倍数为30倍
• 激光对焦和自动对焦功能；单击鼠标，Z轴自动扫描，镭射聚焦