$item.Name

首页>测量/计量>光学测量>椭偏仪

参考价:

  • 面议
SE 400adv SENTECH-激光椭偏仪 - (SE 400adv)

具体成交价以合同协议为准

2024-06-09上海
型号
SE 400adv
该企业相似产品
无线电综合测试仪
产品简介
激光椭偏仪 SE 400adv 测量透明薄膜的厚度和折射率指数,具有测量速度、亚埃级别的厚度精度和折射率测定的精度。多角度测量允许使用激光椭偏仪 SE 400adv 表征吸收膜特征。
详细信息

亚埃精度

稳定的氦氖激光器保证了 0.1 埃精度的超薄单层薄膜厚度测量。

扩展激光椭偏仪的极限

性能优异的多角度手动角度计和角度精度的激光椭偏仪允许测量单层薄膜和层叠膜的折射率、消光系数和膜厚。

高速测量

激光椭偏仪 SE 400adv 的高速测量速度使得用户可以监控单层薄膜的生长和终点检测,或做样品均匀性的自动扫描。

激光椭偏仪 SE 400adv 可用于从可选择的、应用特定的入射角度表征单层薄膜和基片。自动准直透镜确保在大多数平坦反射表面的吸收或透明衬底上进行准确测量。多角度测量的集成支持(40°—90°,5° 步进),可用于确定层叠的厚度、折射率和消光系数。为了补偿激光椭偏测量中厚度测量的模糊性,厚度测量中也采用了多角度测量。

激光椭偏仪 SE 400adv,用于超薄单层薄膜的厚度测量。小型台式仪器由椭偏仪光学部件、角度计、样品台、自动准直透镜、氦氖激光光源和检测单元组成。激光椭偏仪 SE 400adv 的选项支持在微电子、光伏、数据存储、显示技术、生命科学、金属加工等领域的应用。




相关技术文章

同类产品推荐

企业未开通此功能
详询客服 : 0571-87858618
提示

仪表网采购电话