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SENTECH-光谱椭偏仪 - (SENpro)

具体成交价以合同协议为准

2024-08-09上海
型号
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无线电综合测试仪
产品简介
光谱椭偏仪 SENpro 具有操作简单,测量速度快,能对不同入射角的椭偏测量数据进行组合分析等特点。光谱范围为 370 到 1050 nm。SENpro 的光谱范围与精密的 SpectraRay/4 软件相结合,可轻易地确定单层膜和复合层叠膜的厚度和折射率。
详细信息

成本效益

SENpro 是具成本效益的光谱椭偏仪,同时不影响测量性能。

可变入射角

光谱椭偏仪 SENpro 包括可变入射角的角度计,40°—90°,步进值 5°,用于优化椭偏测量。

步进扫描分析器

SENpro 具有步进扫描分析器。在数据采集过程中,偏振器和补偿器固定,以提供高的椭偏测量精度。

光谱椭偏仪 SENpro 具有操作简单,测量速度快,能对不同入射角的椭偏测量数据进行组合分析等特点。光谱范围为 370 到 1050 nm。SENpro 的光谱范围与精密的 SpectraRay/4 软件相结合,可轻易地确定单层膜和复合层叠膜的厚度和折射率。

具有成本效益的桌面式 SENpro 包括可见光到近红外椭偏仪光学,5° 步进角度计,样品台、激光准直器、光纤耦合稳定光源和探测器单元。SENpro 配备了用于系统控制和数据分析的光谱椭偏仪软件 SpectraRay/4 ,用于包括建模,拟合和报告输出。即使对于初学者,该程序文件操作都非常容易。SpectraRay/4 支持计算机控制的用于均匀性测量的自动扫描。

SENpro 专注于薄膜测量的速度和精度,不管是何种薄膜应用。测量范围从 1 nm 的薄层膜到 15 μm 的厚层膜。

对于各种各样的应用,SpectraRay/4 都提供了预定义的配方。


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