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NLS11/NLS12纳米级位移计

具体成交价以合同协议为准

2023-11-01深圳市
型号
深圳真尚有科技有限公司

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该企业相似产品
测厚传感器,激光位移传感器,电容位移传感器,涂层测厚传感器
产品简介
传感器测量系统基于光谱共焦原理,由光学头和控制器组成,之间通过一根光缆连接。该款传感器进行了小型化的封装,便于集成到现有的系统中。
详细信息
- 主要特点-

-应用领域-

应用于表面难以测量的物体(技术性及困难表面),是一种非接触式轮廓测量的通用的测量解决方案。理想情况下,传感器适合于敏感的,软的或液体的表面。适用于微机械工程,电气工程,光学行业,塑料和造纸行业,半导体和PCB产业的检测,工具行业等。

- 技术规格-

传感器

NLS11/NLS12纳米级位移计

量程mm

1

分辨率 nm

20

线性度

NLS11: ≤ 1um

NLS12: ≤ 2um

重复性nm

≤ 15

测量间隙mm

NLS11: 4

NLS12: 13.5

光源卤素灯W

NLS11: 670nm半导体激光二极管

NLS12: 780nm半导体激光二极管

光斑直径µm

NLS11: < 2um

NLS12: 2.0um

测量垂直度º

90±25

响应Hz

16~1K

输出

数据接RS232,模拟010V

重量g

NLS11: 探头约250,控制器约4000

NLS12: 探头约2000,控制器约4000

我们保留规格变化而不另行通知的权利。

- 测量原理-

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