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ECM-100 日本J-RAS离子迁移试验装置CAF测试
具体成交价以合同协议为准
2024-05-14深圳市
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产品简介
日本J-RAS离子迁移试验装置CAF测试是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（ BIAS VOLTAGE ）, 经过长时间的测试（1 ～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ ION MIGRATION ）, 并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。
详细信息
日本J-RAS离子迁移测试装置
追求高性能、高信赖性、高便利性的系统构成。
ECM-100是可以单独试验的ALL-IN-ONE检测系统，并且重要的试验数据被保存到CF存储卡。
作为系统构成我们准备了40CH/100CH型，可以根据您的预算、设置空间来进行选择。
高机能
*用PC设定试验条件之后，就可以不使用PC来继续进行试验。
*使用ECM-100主机就可对HAST/试验槽进行自动控制，试验状况可以用ECM-100进行变更/监视。
*HAST/试验槽的开门功能等的联动装置功能也是标准装备的
*没有通信机能的HAST/试验槽，也可以通过模拟输入来监视湿度
产品优势
简单/便利
△采用高性能驱动计测，测试时焊接工序大幅减少。
△软件设计简单明了，能够非常直观得操作。
△配有过程中的记录、报告相关的报表功能。
△测试中，设备可以单独运行，电脑电源切断也不受影响。
高性能&高机能
△因为每个通道都单独配有电压/计测电路，可以做到16ms的计测间隔。
→迁移现象的检测能力更高，对产品品质把控更精准。
△一台电脑最大可以增设400通道。
△每个通道可以设定不同的电压。
可靠性更高&操作更简洁
△具有自身诊断机能，把异常计测防范于未然。
△配有CF卡，以防设备故障数据丢失。
△每个单元独立，其中一个单元损坏，可以单独拆卸维修，而不影响其他通道使用。
△标准配置也可以接入1~300V的电压范围。
用途
△PCB板、焊接、树脂、导电性粘着剂、绝缘材料等电迁移测试。
△作为高性能/多通道绝缘电阻测试装置，可以在多领域利用。
实例
△测试难度大的高阻值也能除去干扰，清晰得进行测试。
△16msec的高速抽样处理，不会漏掉任何一个数据。
△电容器等绝缘电阻的试验也非常合适。
| 计测Channel数 | 10CH | ||
| 计测电阻值范围 | 2kΩ~10TΩ | ||
| DCbias印加 | 电压范围 | 2范围 （1.0～30.0V，30.1～300.0V） | |
| 电压范围设定 | 1组（5CH） | ||
| 电压级别设定 | Channel个别 | ||
| 设定分解能 | 0.1V | ||
| 设定精度 | ±｛0.3%（F.S.）+0.5｝V | ||
| 最大输出电流 | 700μA/CH | ||
| DCbias计测 | 计测范围 | 2范围 （0～33V，0～330V） | |
| 计测精度 | ±｛0.3%（F.S.）+0.5｝V | ||
| 计测分解能 | 0.1V～（整数+小数点以下1行表示） | ||
| AD转换器 | 24bits⊿∑AD转换器/CH | ||
| 计测速度 | 16msec/10CH | ||
| 电流计测 | 计测方式 | CHANNEL个别HIGH-SIDE电流计测方式 | |
| 计测范围 | 5范围（～500μA，～50μA，～2.5μA，～125nA，～6.25nA） | ||
| 计测范围设定 | CHANNEL个别或者自动范围 | ||
| 计测精度 | ±0.3%（F.S.） | ||
| 计测分解能 | 1pA～（有效数字4行表示） | ||
| AD转换器 | 24bits⊿∑AD转换器/CH | ||
| 计测速度 | 16msec/100CH | ||
| 制御Channel数 | 5～100CH（5Channel单位） | ||
| 数据收录 | 试验制御单位 | 1组（5CH） | |
| 试验设定小时 | 1分～9999小时 | ||
| 收录间隔（定期） | 1分～60分 | ||
| 收录间隔（ECM发生时） | 16msec | ||
| 收录媒体 | Compact flashcard | ||
| 其他 | 主PC通信机能 | LAN接触口×1 | |
| 环境试验机通信机能 | RS-232C接触口×2 | ||
| 外部输入1 | 接点输入×4（联动装置，紧急停止制御可） | ||
| 外部输入2 | 电压输入（1-5V）×2，电流输入（4-20mA）×2（温度·温度记录可） | ||
| 自动校正 | bias输出补正，异常leak电流检测 | ||
