高電圧絶縁計測＋100n秒以下の高速イベント収録
高電圧絶縁信頼性試験装置　HVUαシリーズ

製品の特⻑

• 100n秒以下の高速イベント計測機能で部分放電も検出(抵抗値データと同時計測も可能)

• CH個別電源搭載&CH個別フィードバックで各サンプルに安定した電圧印加

• CH個別電源搭載&CH個別制御で全CHに異なる印加電圧設定が可能

• 機械式リレーによるスキャンが無いので連続試験中の故障やトラブル無し

• 短絡検出回路のCH個別搭載で瞬間的なサンプル短絡にも追従

• トライアキシャルケーブルによるアクティブガードで低ノイズ計測を実現(計測側)

• 専用ソフトウェアによりグラフ表示やデータ収録可能

• 5チャンネル単位で需要に応じてシステム構成可能

用途

⾼電圧デバイスの絶縁信頼性評価、パワーモジュールの連続耐圧評価、プリント基板の耐マイグレーション性能評価、その他⾼電圧部品の絶縁信頼性評価。

• メイン画面

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• テキストデータ画面

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• グラフ画面

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• ログ表示

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対応OS：WindowsXp、7、8、10

J-RAS离子迁移试验装置（CAF）是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（ BIAS VOLTAGE ），经过长时间的测试（1 ～1000  小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ ION MIGRATION ），并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。

J-RAS离子迁移试验装置（CAF）：在高温高湿条件下，对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值，也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。

离子迁移实验装置 绝缘可靠性评估，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压 , 经过长时间的测试（1 ～1000  小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生 , 并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF  试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHO

离子迁移试验设备：离子迁移试验装置（CAF）

适用规格 ： JPCA- - ET01- - 2001

通过最大1000v~2000直流偏压，它可以测试TDDB测试、高压离子迁移和绝缘测试，例如高压设备、高压电路板和高压部件。

此外，HVUα-2000系列还可以测试太阳能系统框架和电池之间的漏电。ECMr系列可在每个通道上设置50-2000v的任何电压

离子迁移试验设备：ECMr离子迁移试验装置

支持测试检测瞬时局部放电的最大30oov

通过每个通道反馈控制精确的输入偏置

在1个系统中扩展最大20Och（5Och x 4case）

通过有源保护电缆进行低噪声测量

通过不使用机械继电器确保高可靠性

世纪天源(香港)有限公司，英文(简称SKYAN)。是一家立足于研发测试领域，集仪器销售、租赁、技术咨询、维修服务于一体的型企业。是中国印制电

路行业协会(CPCA)会员企业。公司位于香港，营运中心设在深圳，在日本东京拥有子公司，在新加披、越南、泰国英国设有商务和销售据点，在中国上海、苏州、青岛、武汉、成都、厦门等设有营业网点全国设有多家授权分销商。

SKYAN公司是日本 HIRAYAMA 株式会社工业设备的海外销售中心--成立于1990年的新加坡 HMC SALES & SERVICE PTE LTD(HIRAYAMA FACTORYSUPPORT CENTRE)在中国的关联企业;是HITACHI环测(COSMOPIA)的中国代理商;是日本J-RAS 株式会社的中国大陆代理商:同时，还是东扬精测、HORIBA岩崎电气、三井电气精机等日本企业的战略合作伙伴。

公司奉行“引入先进，成就品质，创造价值，诚信服务”的经营理念，以客户的需求为出发点，凭借高精密的设备和专业的团队，致力于为客户提供进口的高性能、高精度、高专业性等更高可靠度的

优质产品及更优质的客户服务，协助客户实现其价值的优化。

公司聚焦固态电池开发，定期举办测试技术中日研讨会，邀请著名企事业单位、中日专家进行技术交流，致力于为客户提供更前沿的技术服务，为客户量身订制最合适的解决方案。

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