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HVUα_3000V 离子迁移试验设备
具体成交价以合同协议为准
2024-04-15深圳市
- 型号
- HVUα_3000V
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产品简介
离子迁移试验设备，在高温高湿条件下，对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值，也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。
详细信息
离子迁移试验设备
离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（ BIAS VOLTAGE ）, , 经过长时间的测试（1 ～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ ION MIGRATION ）, , 并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF 试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。（ ION MIGRATION TESTING ）
适用规格 ： JPCA- - ET01- - 2001
通过最大3000v直流偏压，它可以测试TDDB测试、高压离子迁移和绝缘测试，例如高压设备、高压电路板和高压部件。
此外，HVUa系列还可以测试太阳能系统框架和电池之间的漏电。HVUa系列可在每个通道上设置50-3000v的任何电压
离子迁移试验设备
支持测试检测瞬时局部放电的最大30oov
通过每个通道反馈控制精确的输入偏置
在1个系统中扩展最大20Och（5Och x 4case）
通过有源保护电缆进行低噪声测量
通过不使用机械继电器确保高可靠性
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