简介︰

的A.S & Co产品系列SpectraVision 4，软件模块包含多种硬件控制，如PMT，光谱仪，成像摄像头，光源灯；可以完成标准设置的测试分析，也可以进行客户自定义的独立研究分析。SpectraVision 4进行反射率测量是通过选择PMT或者CCD探测器完成的，可根据客户需要进行灵活配置。探测器直接耦合在光路中，不需要光纤连接，能够达到的信号接收品质。可选制冷循环系统，可以极大提高信噪比（S/N）。

产品概述和特点

SpectraVision 4成像模块是一种新开发的工具，能够帮助镜质体的测量。基于现代成像系统的12-16bit动态范围视频摄像头探测器，得到原始的成像图片。同时能够记录下测量位置的信息。可应用到特殊领域，如焦化厂煤质分析。快速给出煤品质和颗粒度等计算信息，提供的煤阶配比。成像显示样品形貌和测量位置，同时给出直方图信息。基于电动控制载物台的系统，可以自动扫描样品，自动分析测试结果，输出测试报告。

SpectraVision 4可以在一套软件中根据用户的实际需要，提供多种独立和功能强大的应用模块。系统可以进行标准化的镜质体反射率测量，同时也可进行精密、复杂的样品探测，完成反射，透射，荧光光谱分析。

SpectraVision 4地质和有机岩相学应用主要特点：

►  镜质体反射率

►  多种有机质成分分布

►  偏振模式

►  显微荧光光谱

►  成熟度研究

►  色域分析

►  镜质体反射率和荧光光谱相关研究

►  自动成像和工业、岩相学图像测量

►  波长精度定标和信号强度动态范围检测

►  自动感测和荧光标定

SpectraVision 4系统特点

►  标准546nm波长反射率测量；

►  计算直方图符合DIN/ISO 标准；

►  测量结果符合GB/T12937-2008；GB/T 8899-2013；GB/T 15590-2008标准所需测量要求。

►  统计参数如平均值，标准偏差；

►  多组分分布测量。

根据显微镜能力，SpectraVision 4具有的功能

►  明场、暗场透射模式；

►  明场、暗场反射模式；

►  偏振模式；

►  荧光模式；

►  三维模拟成像。

 图1显微镜光照下图形

图2通过circular-difference-interference-contrast（循环微分干涉对比）技术，使得三维微观结构可视化

技术参数