显微型双折射测量仪日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术居世界前列，并由此开发出的测量仪器。 

主要产品分四部分：

·         n 光子晶体光学元件；

·         双折射和相位差评价系统；

·         膜厚测试仪；

·         偏振成像相机。

『相位差』『双折射』『内部应力』测量装置 WPA/PA系列

·         快速定量测量透明材料和薄膜2维平面内的

·         相位差、双折射和内部应力应变分布

显微型双折射测量仪PA/WPA系统特点：

·         操作简单/快速测定：*的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布

·         2D数据的多方面分析功能：二维数据的强大分析功能，能够直观解释被测样品的特性。

·         大相位差测试能力（WPA系列）：通过对三组不同波长的测量数据进行计算，WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。

显微型双折射测量仪显微镜下快速测量PA-Micro

显微镜视野下的低相位差样品的测试。

产品特点：

曲线图功能

CSV格式输出

轴相位差显示

l 显微相位差测试的进入模式。

l 适用于低于100nm相位差的透明样品的低相位差测试。