半导体设备

光刻机

非线性光学晶体

LBO 晶体 - 三硼酸锂

Bump 3D检测系统

悬浮粒子可视化检测

半导体相关

PA系列

内部型面检测设备

光学测量设备

激光系统

WPA系列

NIR系列

共聚焦显微镜

球坑测厚仪

三维测量仪

应力双折射测量系统

SIC/蓝宝石专用

超大样件(车窗)

Micro Support 微区取样仪

光刻设备

WPA-KAMAKIRI

KAMAKIRI-WM

KAMAKIRI MES-LS

KAMAKIRI STS-LS

KAMAKIRI W

KAMAKIRI -X stage

材料检测设备

物性分析检测

光纤

晶体