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TOKYOKEIKI东京计器微波振荡器TG-0005A
¥4500TC-660东京计器TOKYOKEIKI数据记录仪
¥6100东京计器GWS-3300物位计TOKYOKEIKI
¥5300电平计MRF-10东京计器TOKYOKEIKI
¥6100UVH-3000东京计器TOKYOKEIKI管道流量计
¥5800超声波流量计TOKYOKEIKI东京计器UFR-300
¥5600TOKYOKEIKI东京计器测厚仪UTM-110
¥3500TOKYOKEIKI东京计器船用BS天线BS-100
¥3000TOKYOKEIKI东京计器GPS指南针TC-300导航仪
¥3200TOKYOKEIKI东京计器测速仪TD-310
¥5100TOKYOKEIKI东京计器EC-9000信息显示装置
¥9800自动驾驶仪TOKYOKEIKI东京计器PR-9000
¥8500NRI-100红外光谱折射率计分光计器仪器
NRI-100红外光谱折射率计分光计器仪器
NRI-100红外光谱折射率计
NRI-200色散红外光谱评估系统
OD-10高浓度测定用分光光度计
ART-25光学元件测量装置
台式真空紫外光度计
NRI-100红外光谱折射率计
NRI-200色散红外光谱评估系统
OD-10高浓度测定用分光光度计
ART-25光学元件测量装置
台式真空紫外光度计
PRS-1受光元件响应速度测量装置
是测量光传感器等受光元件的响应速度的装置。这是表示生成的载波能多快取出外部电路的值,以上升时间/下降时间表示。
下降时间是脉冲输入光的值10%→90%上升时间,上升时间是脉冲输入光的值90%→10%下降时间。装置主要由脉冲LD、样品室、DC电源、示波器、控制PC构成,通过安装在控制PC上的软件对各部分进行控制及测定。
LBC-2激光诱导电流测量装置
本装置是各种太阳能电池和光电转换元件(SiPD、CCD、CMOS)的光电流分布测定装置。
采用LBIC【Laser Beam Induced目前态】的测定方法。
搭载标准波长520nm激光器,将样品移动到XY,测量短路电流(Isc)。空间分辨率约为10达到m
最多50×可以测量50mm的样品。
特别是由钙钛矿太阳能电池等旋转镀膜法制作的太阳电池,在样品面的中心和端部存在均匀性不同的问题,适合评价这样的样品。另外,在SiPD、CCD、CMOS等领域,也适用于涂层材料等的均匀性评价。
BIP-FETS FET测量装置
是评价场效应晶体管特性的装置。从2个源极向样品施加源极(VS)-漏极(VD)间电压、源极(VS)-门(VG)电压。
可以测量漏极电流,进行ID–VSD特性测量和ID-VSG特性测量。根据测量的数据,可以算出移动度和阈值电压。
另外,还计算漏极电流的接通断开比。
规格:
待测样品 FET(接触头等)
施加电压控制 源极-漏极间电压、源极-栅极间电压
施加电压范围 0~±200V
最小施加电压 ±10µV
施加电压间隔 0.01/0.02/0.05/0.1/0.2/0.5/1/2/5/10V