MK-300成像光谱仪BUNKOUKEIKI分光计器用途

MK-300成像光谱仪BUNKOUKEIKI分光计器用途

MK-300成像光谱仪

采用新设计光学系统的正式聚氯乙烯。

CCD检测受光面全域空间分辨率优异。使用支管光纤等进行多点同时光谱测量，以及通过与显微镜连接进行光谱测量等。

衍射光栅最多可以搭载3张，搭载了电气控制器，可以用USB电缆连接PC，用附带的专用软件进行波长驱动和衍射光栅切换。

特点：

将散光减少到极限，大幅改善波长两端产生的分辨率降低

最多可以安装3个衍射光栅

多点同时光谱测量

观测图像的光谱测量

检测器的切换类型也有阵容。

规格：

反线型方差 2.58nm/mm

光学系统 像差校正型特殊光学系统

亮度 F=4.4

波长分辨率 半幅0.2nm（3pixels以内）

迷光 5×10-3以下

波长准确度 ±0.2nm（3pixels以内）

波长再现性 ±0.2nm（3pixels以内）

衍射光栅切换再现性 ±0.2nm（3pixels以内）

光学波长范围 200～1000nm

波长移动方式 正弦机构、波长线性移动

波长驱动方式 步进马达驱动（PC・专用软件控制）

衍射光栅 时刻线有效50×50mm

衍射光栅切换方式 步进马达驱动（最多可搭载3张）

入射狭缝 宽度：0.01～4mm（双开对称连续可变・读取最小刻度0.01mm）

手动快门（可选择自动快门）

软件 衍射光栅切换·波长移动（USB连接）

＊CCD检测器受光尺寸26.6mm（1024×256pixels 26µm/pixels）的情况

EMDP-100光谱系统

这是一种通过Retroller色散棱镜和E壳衍射光栅的交叉分散双光谱配置，能够以高分辨率同时测量广波长范围的系统。搭载ANDOR制ICCD检测器，可以使用分光仪表专用软件Blux进行控制。

通过结合各种测量用光学系统，可以对应等离子体光谱、PL和LIBS等所有测量。

特点:

一台E壳光谱系统实现了波长范围200～900nm的测量。

通过选择Retroller色散棱镜，可以从P1（200～270nm）、P2（270～410nm）、P3（410～900nm）3种测量波长范围中选择。

测量分辨率在整个区域8500（λ/△λ）达到以上。

在专用软件Blux中，可以进行从ICCD检测器测量的数据读取到光谱显示的数据处理（波长、顺序连接、等间隔校正等）。

规格:

光学布置 交叉色散双光谱仪

测量波长范围【3波长范围】 200～900nm【200～270nm（P1）・270～410nm（P2）・410～900nm（P3）】

测量分辨率 8500以上（狭缝宽度50μｍ）

半光谱宽度 0.02～0.1nm（200～900nm）

焦距 波长色散用330mm阶数分离用200mm

开口比 F=10

波长色散 埃壳衍射光栅

次方差 利特勒分散棱镜

入射端口 带XY调整功能的光纤支架

ICCD元件数 W2048×H512 pixel（有效1800×512pixel)

ICCD元件尺寸 13.5×13.5μm

ICCD区域大小 W27.648mm×H6.912mm（有效W24.975mm×H6.912mm）

MK-300成像光谱仪

EMDP-100埃壳光谱系统

CLP-400透镜光谱仪

CLP-50显微镜连接用成像光谱仪

CLP-105 UV紫外线成像光谱仪

MCC-135多波长同时测量相机

重氢光源30W

卤素灯电源

Xseries氙灯光源（通常）

XERseries氙灯光源（反射器）

Nseries陶瓷加热器光源（红外光源）