正品直销hitachi日立FIB-SEM三束系统 显微镜/望远镜
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正品直销hitachi日立FIB-SEM三束系统 显微镜/望远镜

NX9000正品直销hitachi日立FIB-SEM三束系统 显微镜/望远镜

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2888 1

具体成交价以合同协议为准
2022-10-15 09:36:00
2147
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深圳市井泽贸易有限公司

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产品简介

正品直销hitachi日立FIB-SEM三束系统
通过自动重复使用FIB制备截面和进行SEM观察,采集一系列连续截面图像,并重构特定微区的三维结构

详细介绍

深圳市井泽贸易有限公司

胡经理

正品直销hitachi日立FIB-SEM三束系统 

正品直销hitachi日立FIB-SEM三束系统 

NX2000  NX9000

追求理想的三维结构分析

通过自动重复使用FIB制备截面和进行SEM观察,采集一系列连续截面图像,并重构特定微区的三维结构。
采用理想的镜筒布局,从先进材料、先进设备到生物组织——在宽广的领域范围内实现传统机型难以企及的高精度三维结构分析。

项目内容
SEM电子源冷场场发射型
加速电压0.1 ~ 30 kV
分辨率2.1 nm@1 kV
1.6 nm@15 kV
FIB离子源
加速电压0.5 ~ 30 kV
分辨率4.0 nm@30 kV
大束流100 nA
标准探测器In-colum二次电子探测器/In-colum背散射电子探测器/
样品室二次电子探测器
样品台X0 ~ 20 mm *2
Y0 ~ 20 mm *2
Z0 ~ 20 mm *2
θ0 ~ 360° *2
τ-25 ~ 45° *2
大样品尺寸正方形边长6 mm × 厚度2 mm
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