金禾平面度测量仪 编号：JH-H28

JH-28平面凹度测量仪是一款简易测量炊具器皿底部凹度的理想工具，能快速测量被测产品的中心凹度，通过百分表数字变化观察底部轮廓变化，滚动侧头测量误差小，数据可靠，对测量表面要求低，复底锅、不规则起伏面都能很好的应用，对产品质量控制及工艺改进提供有效数据，广泛用于炊具生产企业实验室及测试机构实验室。

测试范围≤240mm

测试误差≤0.02mm

读数误差0.01mm

重复精度≤0.02mm

1.使用前请在测量平台校准；

2.根据锅底尺寸大小调整滑块位置，具体方法是，测量仪右侧两点定位脚靠在锅底一侧，接着移动测量仪右侧滑块使其下方单点定位脚靠在锅底的另一侧。

3.固定完成读出左侧滑块所在位置，即是锅底的直径，百分表按ZERO清零，接着滑动右侧滑块过半径即可测出锅底zui大凹度值，及凹度变化。

4.自动记录凹度zui大值，在百分表正常开机情况下校准零位后按R键2次，此时百分表显示器下方显示向右箭头，百分表会在滑动的过程中记录凹度zui大值；重测测量需要按C键。

平面度误差评定方法

常用的有：三点法、对角线法、zui小区域法。评定平板平面度误差的基本原则 平板平面度误差是指平板加工后的实际表面和理论上的理想平面之间的差值。平板平面度误差的检定，是通过被测实际表面与理想表面相比较来进行的。而理想平面相对于实际表面的位置，将影响平板平面度误差的检定结果。为此规定在评定平面度误差时，理想平面的位置按zui小条件来确定。 zui小条件是指：在确定理想平面位置时，应使该理想平面与实际表面相接触，并使两者之间的zui大距离为zui小。 对于被测实际表面平面度的评定，可做很多个理想平面。比如三个理想平面I-I、I-II、III-III,放在实际表面的不同位置上。每个理想平面到实际表面的zui大距离分别为1、2和3，选其距离zui小值者，因1小于2小于3，所以位置I-I是符合zui小条件的理想平面，获得的平面 度误差值是wei一的，即zui大距离为zui小的只有一个，这样规定就不会因评定基准的位置不统一而带来测量误差。 按zui小条件评定，排除了评定基准带来的误差，更如实地反映了被测平板的平面度误差，所评定的误差值为zui小，有利于zui大限度地保证平板平面度的合格性。评定结果的wei一性，避免了发生争执，所以说zui小条件是评定平板平面度误差的基本原则。