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WK全自动芯片型电感测包机测试解决方案
面议DB622 Megohmmeter with Pre-charge
面议DB502 High Speed DC Resistance Bridge
面议JP30A High Voltage DC Insulation Tester
面议CLT10 Component Tester
面议WK6565 高频直流偏置电流源 系列 (荣获2013”科技创新奖“—奖)
面议WK3265B 高电流直流偏流源
面议WK6500B 精密阻抗分析仪 系列 阻抗测试仪
面议WK3260B 精密磁性元件分析仪
面议WK3255B 电感分析仪系列
面议WK6500P高频 LCR表 系列
面议WK4500LCR测试仪系列
面议测量参数
阻抗 (Z) 相位角 (θ)
电容 (C) 损耗因子 / tan δ (D)
电感 (L) 品质因数 (Q)
交流电阻 (R) 电抗 (X)
直流电阻 (Rdc) 导纳 (Y)
电纳 (B) 电导 (G)
Frequency Model Frequency Range
4310 20 Hz to 100 kHz
4320 20 Hz to 200 kHz
4350 20 Hz to 500 kHz
43100 20 Hz to 1 MHz
43200 20 Hz to 2 MHz
1J4310 频率范围20Hz~100kHz
1J4320 频率范围20Hz~200kHz
1J4350 频率范围20Hz~500kHz
1J43100 频率范围20Hz~1MHz
1J43200 频率范围20Hz~2MHz
• 测试频率:20Hz—2MHz(43200)
• 基本精度:0.1%
• 测试速度:〈20ms
• 提供B1、B2、S1和S2测包讯号,可连接各家封装测试机
• 测试参数:阻抗(Z), 相位角(θ)、交流电阻(Rac)、电容(C), 损耗因数(D),电感(L), 品质因数(Q),电纳(B), 电导(G), 电抗(X), 导纳(Y)和直流电阻(Rdc)
• 交流信号源:10mV—2Vrms
• 通信接口:GPIB、RS232、LAN和USB
• 直流叠加:内置+2V,外加0—±40V
• 具有带电电容器放电保护电路
• 体积小、重量轻、性价比更高的元器件测试仪器
WK4300 LCR表 系列 推荐下载到本地查阅