JSM-6510LA 扫描电子显微镜 元素分析仪EDS

JSM-6510LA 扫描电子显微镜 元素分析仪EDS

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-03-13 14:15:35
264
产品属性
关闭
东莞市景瀚实业有限公司

东莞市景瀚实业有限公司

免费会员
收藏

组合推荐相似产品

产品简介

JSM-6510LA 扫描电子显微镜 元素分析仪EDS

详细介绍

JSM-6510LA 扫描电子显微镜 元素分析仪EDS



日本电子JOEL JSM-6510扫描电子显微镜


是一款高性能低价格的扫描电子显微镜(简称电镜),分辨率可达3.0nm.可按用户要求定做的操作接口便于用户直观操作仪器。SmileShot软件保证得到电子光学参数。


与日本电子公司的元素分析仪(EDS),统合于一体。结构紧凑的EDS由显微镜主体系统的电脑控制,操作员只用一只鼠标,就可完成从图像观测到元素分析的整个过程。



JSM-6510LA 扫描电子显微镜 元素分析仪EDS

JSM-6510扫描电子显微镜 主要特点


强大的电子光学系统,简单操作。

设计的超级圆锥型物镜,保证3nm的分辨率。很容易得到高质量照片。

广域扫描线圈可以得到zui低5倍的放大倍数从而提高观察样品的效率。

优秀的电子光学系统可以在大束流下形成小束斑,有利于微区分析。

JSM6510系列超级圆锥形物镜,在工作距离8mm时的分辨率为3nm,超级圆锥形物。

外形设计可以做到短工作距离情况下,样品仍然可以大角度倾斜。

JEOL开发的全自动电子枪能够产生极小电子束源,只要选择好加速电压,就可以进行观察或成分分析。

电子枪偏压是调节电子枪亮度的重要部件。JEOL的无缝自给加压系统能随着电压变化随时调整偏压,使得无论选择哪个加速电压,都能得到亮度。

JEOL的像散记忆功能能够自动纠正随加速电压或工作距离改变而产生的像散。


JSM-6510LA 电子显微镜强大的功能





多图显示模式

主显示区可以同时显示两幅实时图像,分别为二次电子像和背散射电子像,参考区也可显示2幅实时图像,例如二次电子图像,背散射电子图像或CCD相机图像。

双实时显示模式可以用于不同信号图像的对比,用户可在观察表面形貌的同时了解样品的成份分布情况。

选用多种图像显示模式时,点击“PHOTO”按纽可同时获得并存储2或3幅全屏尺度图像。


简单易懂的操作接口及菜单

操作接口简单,直观,默认的操作接口显示了的功能按钮,并以简单图文标明,点击鼠标即可操作所有功能。

实时量测,图片上的长度和角度等结构细节能在显示器上进行测量。



可变焦聚光镜修正

做表面观察和元素分析等不同应用时,选择合适束流非常重要,一般是通过聚光镜与物镜光阑来控制电子束流的。

如果在调整束流过程中,焦点和观察区域位移变化很小,调整起来会比较方便。JEOL的可变焦聚光镜可以保证这一点。



全对中样品台

当样品台倾斜时,全对中样品台可使图像位移和焦点变化最小。

使用此样品台可多方向观察粗糙表面样品,采用一些不同角度摄取的图片组成立体图片,可通过立体图片观察深度。



低真空SEM

低真空扫描电镜,除了包括高真空模式外,还包括低真空模式,在低真空模式下,不导电样品以及容易放气的样品都可以直接观察。

结合JEOL的冷冻干燥技术,可在低真空模式下快速观察含水样品。


保证分辨率3.0nm(30kV)
8.0nm(3kV)
15nm(1kV)
放大倍数5至300,000x
加速电压0.5kV至30kV
电子枪工厂预对中灯丝
聚光镜变焦聚光镜
物镜锥形物镜
样品台全对中样品台
X-Y80mm-40mm
Z5mm至48mm
旋转360°
倾斜-10°至+90°
排气系统
(高真空模式)
DPx1,RPx1
排气系统
(低真空模式)
DPx1,RPx2



保证分辨率3.0nm(30kV)
8.0nm(3kV)
15nm(1kV)
放大倍数5至300,000x
加速电压0.5kV至30kV
电子枪工厂预对中灯丝
聚光镜变焦聚光镜
物镜锥形物镜
样品台全对中样品台
X-Y80mm-40mm
Z5mm至48mm
旋转360°
倾斜-10°至+90°
排气系统
(高真空模式)
DPx1,RPx1
排气系统
(低真空模式)
DPx1,RPx2


JSM-6510LA 扫描电子显微镜 元素分析仪EDS

上一篇:手持式元素分析仪在环境监测中扮演什么角色? 下一篇:手持式重金属元素分析仪在农产品检测中的应用
热线电话 在线询价
提示

仪表网采购电话