X射线荧光镀层厚度及材料分析测试仪

X-STRATA960X射线荧光镀层厚度及材料分析测试仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2017-07-18 22:43:20
3236
产品属性
关闭
深圳市鼎极天电子有限公司

深圳市鼎极天电子有限公司

免费会员
收藏

组合推荐相似产品

创新点

深圳市鼎极天电子有限公司中国台湾

产品简介

基于25年涂镀层测量经验,在CMI900系列测厚仪的坚实基础上,引进全新的设计

详细介绍

基于25年涂镀层测量经验,在CMI900系列测厚仪的坚实基础上,引进全新的设计:

  • 100X射线管 - 市场上所能提供的zui强大的X射线管。提高30%测量精度,同时减少50%测量时间
  • 更小的X射线光斑尺寸 - 新增15mil直径准直器,可测量电子器件上更小的部位。提供改进的CCD摄像头及缩放装置,同时提供更高精度的Y轴控制。
  • 距离独立测量(DIM - 更灵活地特殊形状样品,可在DIM范围内12.5-90mm(0.5-3.5inch)对样品表面进行测量,Z轴可控制范围为230mm(9inch)。可通过手动调整也可以通过自动镭射聚焦来实现对样品的精确对准。
  • 自动镭射聚焦 - 自动寻找振决的聚焦距离,改善DIM的聚焦过程并提高系统测量再现性。也可选择标准的镭射聚焦模式。
  • 全新的大型样品室 - 更大的开槽式样品室(580x510x230mm : 23x20x9inch),开槽式设计可容纳超大尺寸的样品。可从各个方向简便的装载和观察样品。
  • 3种样品台选项 - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移动范围)/XY手动控制(250x250mm或10x10英寸)/固定样品台;标准配置Z轴程控控制(230mm或9inch移动范围)。
  • 内置PC用户界面 

 

技术参数

主要规格

规格描述

X射线激发和检测

牛津仪器制造的100瓦(50kV-2.0mA)微焦点钨靶X射线管

高分辨封气(Xe)正比计数器可获取zui高的计数灵敏度,配合二次滤光器机构实现*的检出效果

数字脉冲处理

4096通道数字多道分析器,数字光谱处理过程可获取zui高的信号采集(每秒计数量),从而保证的测量统计结果

手动或自动透镜控制

手动透镜控制:通过手动调整DIM旋钮控制分析聚焦距离

自动透镜控制:激光束自动寻找DIM系统的*分析聚焦距离

自由距离测定

简化系统设置和维护

在聚焦距离范围内仅需要一个校正

对不规则样品更灵活的测量

在12.7mm-88.9mm的自由距离内,可准确测量样品表面的任何一点

通过DIM旋钮或使用自动激光聚焦功能,可快速、准确的确定聚焦距离

 

附带自动透镜功能的自动激光聚焦

*的、自动样品摆放系统

激光扫描单键启动

消除样品碰击Z轴的机会

改善DIM的聚焦过程

标准激光聚焦

标准激光聚焦功能在所要求的聚焦聚焦上,自动寻找正确的Z轴位置,提高分析再现性,结果不受人为操作的影响

Z轴聚焦扫描单键启动

改善DIM和常规固定焦距测量时的聚焦过程

微小准直器

仪器至少装备一个客户规格的准直器以*化测量,并提高测量效率

备有各种规格准直器(0.015mm – 0.5mm),园形或矩形供客户选用

多准直器程序交换系统可同时安装4个准直器

大样品室设计

方便超大样品的推拉式平台:如大面积PCB板、较长的管材样品

大型开发式样品室:方便于从各方向进样和观察样品

三种样品台备选:可编程XY轴样品台、手动XY轴样品台、固定位置样品台

标准配置自动化Z轴:zui大高度230mm

集成化计算机

工作站式设计:改善人机工程学、方便使用

简化设备安装:仅需要接入主电源线,没有其他电缆

减少整机占用空间

USB和Ethernet接口:打印机、刻录机、局域网和远程在线支持功能

其他硬件特点

CCD相机拥有2x、3x或4x的变焦功能,可实现对测定样品的高分辨、实时、彩色图像观测

温度补偿功能监测系统温度,并自动校正由于温度变化可能引起的仪器漂移,保证*的仪器稳定性

光谱校准、单击鼠标执行系统性能自检和校正程序保证仪器*的稳定性

坚实耐用的仪器设计适用于各种工业环境

一体化工作站设计实现*的人机工程学

 

上一篇:如何准确测量出陶瓷热沉材料上金属镀层的厚度和镀金锡层的比例 下一篇:注射剂瓶壁厚底厚测试仪:提高药品的安全性和有效性
热线电话 在线询价
提示

仪表网采购电话